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研究開発・品質管理・故障解析で、SEM(走査型)やTEM(透過型)の電子顕微鏡を選ぶ、研究・分析・設備・購買の担当の方へ

電子顕微鏡のメーカー7社比較【2026年】

電子顕微鏡は、光の代わりに電子線を当てて、
光学顕微鏡では見えない微細な構造まで拡大して見る装置です。

ABOUT

電子顕微鏡とは

比較表を見る ↓

電子顕微鏡は、光の代わりに波長の短い電子線を当て、
光学顕微鏡では見えない数nmの構造まで拡大して見る装置です。
表面を見る走査型電子顕微鏡(SEM)⁠と⁠、
薄い試料に電子線を通して見る透過型電子顕微鏡(TEM)があります。

製品の特長

  • 分解能はSEMで0.5〜4nm、TEMで0.1〜0.3nm(人の目で見分けられるのは0.2mm)
  • SEMは焦点深度が深く、凹凸を立体的に見られる(破断面・粒子・⁠⁠⁠異物)
  • EDSを付けると、見ている所の元素がわかる(BからUまで同時に)

使うメリット

  • 光学顕微鏡で見えない傷・異物・粒子の形がわかる(故障解析・異物分析)
  • 形と元素を同じ場所で調べられる(材料の判別・異物の正体)
  • 低真空なら樹脂やガラスをコーティングなしで見られる(数十〜数百Pa)

選ぶときに注意すること

  1. 分解能は加速電圧と検出器の条件つきなので、条件をそろえて比べる
  2. 試料室に入る大きさ(直径・高さ)を先に確かめる
  3. 電気を通さない試料が多いなら、低真空モードが付くかを確かめる
  4. TEMは、試料を薄くする前処理と置く部屋を先に決める
  5. 値段を出しているメーカーは少ないので、試料を送ってデモで確かめる

※仕組みと分解能の範囲は日本電子の解説(走査電子顕微鏡 SEM)による。各製品の仕様と値段は、各メーカーの公式の製品ページ・カタログ・ニュースリリースの記載。

LIST

電子顕微鏡の比較表

コストは、値段を公開している製品どうしで比べています。値段を出していない製品は「要見積」。

CSV

電子顕微鏡13製品の比較
製品・メーカーコスト製品の強み仕様公式ページ

卓上SEM

3製品
サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社Phenom XL G3大きな部品を切らずに見る品質管理口コミを書く要見積

卓上SEMでは大きい100×100mmの試料をそのまま入れられます。試料を入れてから像が出るまで平均40秒で、品質管理の数をこなせます。電子源は寿命3,000時間のCeB6で、交換の手間が少なくて済みます。

種類
卓上SEM
分解能
9nm未満
倍率
160〜200,000倍
加速電圧
4.8〜20.5kV
電子銃
CeB6(寿命3,000時間)
低真空
低・中・高を切り替える
試料
100×100mm・高さ40mm
元素分析
オプション(本体に一体)
大きさ
本体 W316×D587×H625mm、75kg
特長
像が出るまで平均40秒
公式ページへ詳細・⁠⁠⁠仕様
株式会社テクネックス工房TinySEM Mighty‑8DX研究室の机で手軽に見る小型SEM口コミを書く要見積

電子レンズに永久磁石を使った小型のSEMで、除振台を置かずに実験台へ載せて使えます。本体は約18kgで、分解して研究室の間を1人で運べます。17kVで約10nmの分解能があり、EDSもオプションで付けられます。

種類
卓上SEM
分解能
17kVで約10nm
倍率
25〜100,000倍
加速電圧
2kV・17kV(1kV・5kVはオプション)
電子銃
タングステン(熱電子)
低真空
高真空のみ
試料
直径50mmまで
元素分析
オプション
大きさ
本体 W380×D350×H500mm、約18kg
特長
永久磁石レンズで除振台がいらない
公式ページへ詳細・⁠⁠⁠仕様
日本電子株式会社JCM‑7000Plus NeoScope異物の観察と元素分析を手元で口コミを書く要見積

光学像で場所を探し、そのままSEM像と元素分析に進める卓上SEMです。低真空モードが標準で付くので、ガラスや樹脂も前処理なしで見られます。20kVの高真空モードで6.0nmの分解能があり、繰り返しの測定はNeo Actionで自動にできます。

種類
卓上SEM
分解能
20kVで6.0nm(二次電子像)
倍率
10〜100,000倍
加速電圧
5・10・15・20kVの4段
電子銃
タングステン
低真空
標準で付く
試料
直径80mm・高さ50mm
元素分析
自社製のEDSを組み込める
特長
光学像で視野を探してからSEM像へ切り替える
記載なし
大きさ
公式ページへ詳細・⁠⁠⁠仕様

汎用SEM(タングステン・LaB6)

3製品
カールツァイス株式会社ZEISS EVO 10電気を通さない試料も多い分析室口コミを書く要見積

電子源をタングステンとLaB6から選べる汎用SEMです。試料室は3,000Paまでの圧力で使えるので、電気を通さない試料や水を含む試料も扱えます。EVO 10は3機種のうち試料室がいちばん小さい型(直径310mm)⁠で⁠⁠⁠⁠す⁠。

種類
汎用SEM(タングステン・LaB6)
分解能
30kVで2.5nm(W)・2nm(LaB6)
加速電圧
0.2〜30kV
電子銃
タングステンかLaB6
低真空
10〜400Pa、拡張で3,000Paまで
試料
試料室 直径310×高さ220mm
元素分析
オプション(SmartEDX)
特長
試料室は3,000Paまでの圧力で使える
記載なし
倍率・大きさ
公式ページへ詳細・⁠⁠⁠仕様
株式会社島津製作所SUPERSCAN SS‑2000 LMS金属・樹脂の材料解析と異物の確認口コミを書く3,890万円⁠〜(税込)

チェコのTESCANと組んだ島津ブランドの汎用SEMで、日本語のソフトとマニュアル、国内の保守が付きます。2倍の低い倍率から歪みを抑えて見られるので、広い範囲から異物の場所を探せます。LMSは30Paの低真空が付いた標準の型で、3,890万円から(税込)⁠で⁠⁠⁠⁠す⁠。

種類
汎用SEM(タングステン・LaB6)
分解能
30keVで3nm
倍率
2〜1,000,000倍
加速電圧
0.2〜30keV
電子銃
タングステン
低真空
30Pa固定
試料
直径100mm・高さ39mm
元素分析
元素分析は専用ソフトEssenseで操作
特長
2倍の極低倍率から見られる
記載なし
大きさ
公式ページへ詳細・⁠⁠⁠仕様
松定プレシジョン株式会社PrecisionSEM5600薄い試料を低い電圧で細かく見る口コミを書く要見積

試料の下にも対物レンズを置いた2つのレンズの汎用SEMで、厚さ5mm以下の試料を高い分解能で見られます。試料に逆向きの電圧をかけて電子を減速させ、低い電圧で表面を細かく撮れます。ふつうのSEMと同じ見方では30kVで3nmの分解能です。

種類
汎用SEM(タングステン・LaB6)
分解能
30kVで3nm(⁠トップレンズ⁠)
倍率
低倍〜10万倍程度
加速電圧
最大30kV
電子銃
タングステン
低真空
オプション
試料
厚さ40mmまで
元素分析
オプション
特長
下側の対物レンズで厚さ5mm以下を高分解能に見る
記載なし
大きさ
公式ページへ詳細・⁠⁠⁠仕様

FE‑SEM・FIB‑SEM

4製品
カールツァイス株式会社ZEISS Sigma 360電子線に弱い試料を低電圧で見る口コミを書く要見積

低い加速電圧に強いFE‑SEMで、500Vでも1.9nmの分解能があります。電子線に弱い樹脂や生物の試料、電気を通さない試料を、コーティングを減らして見られます。低真空のNanoVP liteモードは10〜133Paで使えます。

種類
FE‑SEM・FIB‑SEM
分解能
15kVで0.9nm、500Vで1.9nm
倍率
10〜1,000,000倍
加速電圧
0.02〜30kV
電子銃
ショットキー(電界放出)
低真空
10〜133Pa(NanoVP lite)
元素分析
EDSポート2(専用1)
特長
500Vで1.9nm
記載なし
試料・大きさ
公式ページへ詳細・⁠⁠⁠仕様
サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社Apreo 2 S分析しながら高い分解能で見る口コミを書く要見積

試料からレンズまで10mm離した分析の位置のまま、1nm級の分解能で撮れるFE‑SEMです。EDSを付けると、SEM像に元素の色をその場で重ねて見られます(ChemiSEM)。軸合わせや焦点合わせを自動でするので、使う人の腕で結果が変わりにくい装置です。

種類
FE‑SEM・FIB‑SEM
分解能
1kVで0.9nm
加速電圧
20eV〜30keV
電子銃
電界放出(FEG)
低真空
オプション(10〜500Pa)
試料
ステージ110×110mm、5kgまで
元素分析
オプション(ChemiSEM)
特長
作動距離10mmで1nm
記載なし
倍率・大きさ
公式ページへ詳細・⁠⁠⁠仕様
株式会社島津製作所SUPERSCAN SS‑4000 LMH非導電性の材料を低加速で細かく見る口コミを書く1億1,000万円⁠〜(税込)

TESCANと組んだ島津ブランドの超高分解能FE‑SEMで、1keVでも1.3nmの分解能があります。電圧や電流を変えても明るさと焦点を自動で合わせ直すので、条件を変えながらの観察が速く進みます。LMHは標準の試料室の高真空の型で、1億1,000万円から(税込)⁠で⁠⁠⁠⁠す⁠。

種類
FE‑SEM・FIB‑SEM
分解能
15keVで0.9nm、1keVで1.3nm
倍率
2〜2,000,000倍
加速電圧
0.05〜30keV
電子銃
ショットキー電界放出
低真空
なし(GMUは7〜500Pa)
試料
直径100mm・高さ39mm
元素分析
オプション(約20種類の分析に対応)
特長
約20種類の分析オプション
記載なし
大きさ
公式ページへ詳細・⁠⁠⁠仕様
日本電子株式会社JIB‑PS500iTEM試料づくりと断面の観察口コミを書く要見積

イオンビームで削るFIBとFE‑SEMを1台にしたFIB‑SEMで、TEMで見る薄い試料を作りながらその場で確かめられます。Gaイオンビームは最大100nAで、大きな断面も短い時間で削れます。直径130mmの試料の全面で加工と観察ができます。

種類
FE‑SEM・FIB‑SEM
分解能
SEMは15kVで0.7nm
倍率
50〜1,000,000倍(SEM)
加速電圧
0.01〜30kV(SEM)
電子銃
インレンズショットキーPlus(電界放出)
試料
直径130mm・高さ80mmまで
元素分析
オプション(本体のソフトに組み込み)
特長
Gaイオンビームは最大100nA
記載なし
低真空・大きさ
公式ページへ詳細・⁠⁠⁠仕様

TEM(透過型)

2製品
サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社Talos 12細胞・組織やナノ粒子のTEM観察口コミを書く要見積

120kVの透過電子顕微鏡(TEM)で⁠、細胞や組織の日常の観察から、STEMとEDSでの分析、クライオ電子顕微鏡の入門機まで組み替えられます。線分解能は0.204nmです。部屋は8.4m²の配置例があり、囲いの付いた本体で場所を取りません。

種類
TEM(透過型)
分解能
線分解能0.204nm
倍率
25〜650k倍(標準)
加速電圧
20〜120kV
電子銃
LaB6かタングステン(熱電子)
元素分析
オプション(横から入れる格納式)
大きさ
設置する部屋は8.4m²から
特長
クライオ電子顕微鏡の入門機にもできる
記載なし
低真空・⁠⁠⁠試料
公式ページへ詳細・⁠⁠⁠仕様
日本電子株式会社JEM‑120i生物・高分子を見る120kVのTEM口コミを書く要見積

生物や高分子を見る120kVの透過電子顕微鏡(TEM)で⁠、試料を入れてから4つの手順で観察が終わります。フィラメントはカートリッジ式なので、交換を誰でも安全にできます。絞りの切り替えまで自動で、倍率を変える操作が少なくて済みます。

種類
TEM(透過型)
分解能
0.2nm(高分解能の構成は0.14nm)
倍率
50〜1,200,000倍(高分解能の構成は1,500,000倍まで)
加速電圧
20〜120kV
電子銃
フィラメント(カートリッジ式)
大きさ
W840×D1,734×H1,782mm
特長
試料を入れてから4つの手順で観察
記載なし
低真空・試料・元素分析
公式ページへ詳細・⁠⁠⁠仕様

マイクロスコープ一体型

1製品
株式会社キーエンスEB‑3000シリーズマイクロスコープとSEMを1台で口コミを書く要見積

マイクロスコープ・SEM・EDSを1台にまとめた電子顕微鏡です。マイクロスコープで見ていた箇所へ、約1分でSEMが自動で移り、倍率と位置を合わせ直さずに済みます。分解能などの数値は公式サイトの文字で確かめられなかったので、カタログで確かめます。

種類
マイクロスコープ・SEM・EDSを1台にした型(大きさ・電子銃の記載なし)
試料
360度回る電動ステージ、大きな試料室
元素分析
マイクロスコープ・SEM・EDSが1台
特長
観察した箇所から約1分でSEMへ自動で移る
記載なし
分解能・倍率・加速電圧・電子銃・低真空・大きさ
公式ページへ詳細・⁠⁠⁠仕様

卓上SEM3製品

サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社

Phenom XL G3

大きな部品を切らずに見る品質管理

卓上SEMでは大きい100×100mmの試料をそのまま入れられます。試料を入れてから像が出るまで平均40秒で、品質管理の数をこなせます。電子源は寿命3,000時間のCeB6で、交換の手間が少なくて済みます。

コスト要見積

種類
卓上SEM
分解能
9nm未満
倍率
160〜200,000倍
加速電圧
4.8〜20.5kV
電子銃
CeB6(寿命3,000時間)
低真空
低・中・高を切り替える
試料
100×100mm・高さ40mm
元素分析
オプション(本体に一体)
大きさ
本体 W316×D587×H625mm、75kg
特長
像が出るまで平均40秒
公式ページへ
株式会社テクネックス工房

TinySEM Mighty‑8DX

研究室の机で手軽に見る小型SEM

電子レンズに永久磁石を使った小型のSEMで、除振台を置かずに実験台へ載せて使えます。本体は約18kgで、分解して研究室の間を1人で運べます。17kVで約10nmの分解能があり、EDSもオプションで付けられます。

コスト要見積

種類
卓上SEM
分解能
17kVで約10nm
倍率
25〜100,000倍
加速電圧
2kV・17kV(1kV・5kVはオプション)
電子銃
タングステン(熱電子)
低真空
高真空のみ
試料
直径50mmまで
元素分析
オプション
大きさ
本体 W380×D350×H500mm、約18kg
特長
永久磁石レンズで除振台がいらない
公式ページへ
日本電子株式会社

JCM‑7000Plus NeoScope

異物の観察と元素分析を手元で

光学像で場所を探し、そのままSEM像と元素分析に進める卓上SEMです。低真空モードが標準で付くので、ガラスや樹脂も前処理なしで見られます。20kVの高真空モードで6.0nmの分解能があり、繰り返しの測定はNeo Actionで自動にできます。

コスト要見積

種類
卓上SEM
分解能
20kVで6.0nm(二次電子像)
倍率
10〜100,000倍
加速電圧
5・10・15・20kVの4段
電子銃
タングステン
低真空
標準で付く
試料
直径80mm・高さ50mm
元素分析
自社製のEDSを組み込める
特長
光学像で視野を探してからSEM像へ切り替える
記載なし
大きさ
公式ページへ

汎用SEM(タングステン・LaB6)3製品

カールツァイス株式会社

ZEISS EVO 10

電気を通さない試料も多い分析室

電子源をタングステンとLaB6から選べる汎用SEMです。試料室は3,000Paまでの圧力で使えるので、電気を通さない試料や水を含む試料も扱えます。EVO 10は3機種のうち試料室がいちばん小さい型(直径310mm)⁠で⁠⁠⁠⁠す⁠。

コスト要見積

種類
汎用SEM(タングステン・LaB6)
分解能
30kVで2.5nm(W)・2nm(LaB6)
加速電圧
0.2〜30kV
電子銃
タングステンかLaB6
低真空
10〜400Pa、拡張で3,000Paまで
試料
試料室 直径310×高さ220mm
元素分析
オプション(SmartEDX)
特長
試料室は3,000Paまでの圧力で使える
記載なし
倍率・大きさ
公式ページへ
株式会社島津製作所

SUPERSCAN SS‑2000 LMS

金属・樹脂の材料解析と異物の確認

チェコのTESCANと組んだ島津ブランドの汎用SEMで、日本語のソフトとマニュアル、国内の保守が付きます。2倍の低い倍率から歪みを抑えて見られるので、広い範囲から異物の場所を探せます。LMSは30Paの低真空が付いた標準の型で、3,890万円から(税込)⁠で⁠⁠⁠⁠す⁠。

コスト3,890万円⁠〜(税込)

種類
汎用SEM(タングステン・LaB6)
分解能
30keVで3nm
倍率
2〜1,000,000倍
加速電圧
0.2〜30keV
電子銃
タングステン
低真空
30Pa固定
試料
直径100mm・高さ39mm
元素分析
元素分析は専用ソフトEssenseで操作
特長
2倍の極低倍率から見られる
記載なし
大きさ
公式ページへ
松定プレシジョン株式会社

PrecisionSEM5600

薄い試料を低い電圧で細かく見る

試料の下にも対物レンズを置いた2つのレンズの汎用SEMで、厚さ5mm以下の試料を高い分解能で見られます。試料に逆向きの電圧をかけて電子を減速させ、低い電圧で表面を細かく撮れます。ふつうのSEMと同じ見方では30kVで3nmの分解能です。

コスト要見積

種類
汎用SEM(タングステン・LaB6)
分解能
30kVで3nm(⁠トップレンズ⁠)
倍率
低倍〜10万倍程度
加速電圧
最大30kV
電子銃
タングステン
低真空
オプション
試料
厚さ40mmまで
元素分析
オプション
特長
下側の対物レンズで厚さ5mm以下を高分解能に見る
記載なし
大きさ
公式ページへ

FE‑SEM・FIB‑SEM4製品

カールツァイス株式会社

ZEISS Sigma 360

電子線に弱い試料を低電圧で見る

低い加速電圧に強いFE‑SEMで、500Vでも1.9nmの分解能があります。電子線に弱い樹脂や生物の試料、電気を通さない試料を、コーティングを減らして見られます。低真空のNanoVP liteモードは10〜133Paで使えます。

コスト要見積

種類
FE‑SEM・FIB‑SEM
分解能
15kVで0.9nm、500Vで1.9nm
倍率
10〜1,000,000倍
加速電圧
0.02〜30kV
電子銃
ショットキー(電界放出)
低真空
10〜133Pa(NanoVP lite)
元素分析
EDSポート2(専用1)
特長
500Vで1.9nm
記載なし
試料・大きさ
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サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社

Apreo 2 S

分析しながら高い分解能で見る

試料からレンズまで10mm離した分析の位置のまま、1nm級の分解能で撮れるFE‑SEMです。EDSを付けると、SEM像に元素の色をその場で重ねて見られます(ChemiSEM)。軸合わせや焦点合わせを自動でするので、使う人の腕で結果が変わりにくい装置です。

コスト要見積

種類
FE‑SEM・FIB‑SEM
分解能
1kVで0.9nm
加速電圧
20eV〜30keV
電子銃
電界放出(FEG)
低真空
オプション(10〜500Pa)
試料
ステージ110×110mm、5kgまで
元素分析
オプション(ChemiSEM)
特長
作動距離10mmで1nm
記載なし
倍率・大きさ
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株式会社島津製作所

SUPERSCAN SS‑4000 LMH

非導電性の材料を低加速で細かく見る

TESCANと組んだ島津ブランドの超高分解能FE‑SEMで、1keVでも1.3nmの分解能があります。電圧や電流を変えても明るさと焦点を自動で合わせ直すので、条件を変えながらの観察が速く進みます。LMHは標準の試料室の高真空の型で、1億1,000万円から(税込)⁠で⁠⁠⁠⁠す⁠。

コスト1億1,000万円⁠〜(税込)

種類
FE‑SEM・FIB‑SEM
分解能
15keVで0.9nm、1keVで1.3nm
倍率
2〜2,000,000倍
加速電圧
0.05〜30keV
電子銃
ショットキー電界放出
低真空
なし(GMUは7〜500Pa)
試料
直径100mm・高さ39mm
元素分析
オプション(約20種類の分析に対応)
特長
約20種類の分析オプション
記載なし
大きさ
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日本電子株式会社

JIB‑PS500i

TEM試料づくりと断面の観察

イオンビームで削るFIBとFE‑SEMを1台にしたFIB‑SEMで、TEMで見る薄い試料を作りながらその場で確かめられます。Gaイオンビームは最大100nAで、大きな断面も短い時間で削れます。直径130mmの試料の全面で加工と観察ができます。

コスト要見積

種類
FE‑SEM・FIB‑SEM
分解能
SEMは15kVで0.7nm
倍率
50〜1,000,000倍(SEM)
加速電圧
0.01〜30kV(SEM)
電子銃
インレンズショットキーPlus(電界放出)
試料
直径130mm・高さ80mmまで
元素分析
オプション(本体のソフトに組み込み)
特長
Gaイオンビームは最大100nA
記載なし
低真空・大きさ
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TEM(透過型)2製品

サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社

Talos 12

細胞・組織やナノ粒子のTEM観察

120kVの透過電子顕微鏡(TEM)で⁠、細胞や組織の日常の観察から、STEMとEDSでの分析、クライオ電子顕微鏡の入門機まで組み替えられます。線分解能は0.204nmです。部屋は8.4m²の配置例があり、囲いの付いた本体で場所を取りません。

コスト要見積

種類
TEM(透過型)
分解能
線分解能0.204nm
倍率
25〜650k倍(標準)
加速電圧
20〜120kV
電子銃
LaB6かタングステン(熱電子)
元素分析
オプション(横から入れる格納式)
大きさ
設置する部屋は8.4m²から
特長
クライオ電子顕微鏡の入門機にもできる
記載なし
低真空・⁠⁠⁠試料
公式ページへ
日本電子株式会社

JEM‑120i

生物・高分子を見る120kVのTEM

生物や高分子を見る120kVの透過電子顕微鏡(TEM)で⁠、試料を入れてから4つの手順で観察が終わります。フィラメントはカートリッジ式なので、交換を誰でも安全にできます。絞りの切り替えまで自動で、倍率を変える操作が少なくて済みます。

コスト要見積

種類
TEM(透過型)
分解能
0.2nm(高分解能の構成は0.14nm)
倍率
50〜1,200,000倍(高分解能の構成は1,500,000倍まで)
加速電圧
20〜120kV
電子銃
フィラメント(カートリッジ式)
大きさ
W840×D1,734×H1,782mm
特長
試料を入れてから4つの手順で観察
記載なし
低真空・試料・元素分析
公式ページへ

マイクロスコープ一体型1製品

株式会社キーエンス

EB‑3000シリーズ

マイクロスコープとSEMを1台で

マイクロスコープ・SEM・EDSを1台にまとめた電子顕微鏡です。マイクロスコープで見ていた箇所へ、約1分でSEMが自動で移り、倍率と位置を合わせ直さずに済みます。分解能などの数値は公式サイトの文字で確かめられなかったので、カタログで確かめます。

コスト要見積

種類
マイクロスコープ・SEM・EDSを1台にした型(大きさ・電子銃の記載なし)
試料
360度回る電動ステージ、大きな試料室
元素分析
マイクロスコープ・SEM・EDSが1台
特長
観察した箇所から約1分でSEMへ自動で移る
記載なし
分解能・倍率・加速電圧・電子銃・低真空・大きさ
公式ページへ
Q&A

電子顕微鏡選びで、よくある疑問

購買担当の疑問電子顕微鏡の価格・値段は、いくら?

値段を公式に出しているのは島津製作所で、汎用SEMのSS‑2000 LMSが3,890万円から、FE‑SEMのSS‑4000 LMHが1億1,000万円から(税込)⁠で⁠す⁠。卓上SEMでは、日本電子の前の型JCM‑7000が2019年の発売時に本体標準価格6,500,000円からでした。ほかの製品は、試料と使い方を伝えて見積もりを取ります。

設備担当の疑問光学顕微鏡と電子顕微鏡の違いは?

光学顕微鏡は光で見るので、光の波長より小さい物は見えません。電子顕微鏡は波長の短い電子線を使い、SEMで0.5〜4nm、TEMで0.1〜0.3nmの細かさまで見分けます。SEMは焦点深度も深く、凹凸のある表面を立体的に見られます。

設備担当の疑問走査型電子顕微鏡(SEM)と透過型電子顕微鏡(TEM)の違いと仕組みは?

SEMは試料の表面に電子線を当て、表面から出てくる電子を検出器で拾って像にします。TEMは薄くした試料に電子線を通し、通り抜けた電子で中の構造を見ます。表面の形や異物を見るならSEM、結晶や細胞の中の構造を見るならTEMを選びます。

工場長の疑問電子顕微鏡の分解能と倍率は、どこまで見える?

倍率は画面の大きさで変わるので、比べるのは分解能です。分解能は条件つきで書かれ、島津のSS‑4000 LMHは15keVで0.9nm、1keVで1.3nm、日本電子のJCM‑7000Plusは20kVで6.0nmです。TEMのJEM‑120iは0.2nm(高分解能の構成は0.14nm)ま⁠で見分けます。

総務の疑問卓上SEMと据え置きの汎用SEM、どちらを選ぶ?

異物の確認や品質管理で、決まった大きさの試料を早く見るなら卓上SEMで足ります。サーモフィッシャーのPhenom XL G3は100×100mmの試料が入り、像が出るまで平均40秒です。大きな部品を入れたい、分析の検出器を何台も付けたいなら、試料室の大きな汎用SEMにします。

設備担当の疑問FE‑SEM(電界放出形)とタングステンの汎用SEMの違いは?

FE‑SEMは電子線を細く絞れるので、低い電圧でも細かく見られます。ツァイスのSigma 360は500Vで1.9nm、タングステンのツァイスEVO 10は30kVで2.5nmです。電子線に弱い試料や表面のごく浅い所を見るならFE‑SEMにします。

工場長の疑問樹脂・ガラスなど電気を通さない試料は、そのまま見られる?

低真空モードがあれば、試料室を数十〜数百Paにして帯電を減らし、コーティングなしで見られます。日本電子のJCM‑7000Plusは低真空モードが標準で、島津のSS‑2000 LMSは30Pa、ツァイスのSigma 360は10〜133Paの低真空で使えます。高真空だけの機種では、金や白金パラジウムで表面を薄く覆ってから見ます。

設備担当の疑問元素分析(EDS)はできる?

SEMにEDSを付けると、見ている所の元素をBからUまで同時に調べられます。日本電子はSEMとEDSを自社で作り、観察の画面で元素を表示します。サーモフィッシャーのApreo 2は、SEM像に元素の色をその場で重ねるChemiSEMをオプションで付けられます。

施設管理の疑問置く場所・設置の条件は?

テクネックス工房のTinySEMは100Vのコンセントだけで動き、除振台もいりません。据え置きのTEMは大きく、日本電子のJEM‑120iは幅840×奥行1,734×高さ1,782mm、サーモフィッシャーのTalos 12は8.4m²の部屋に置く配置例があります。床の振動や電源も含めて、買う前にメーカーと置き場所を決めます。

経営者の疑問クライオ電子顕微鏡とは? 普通のTEMとの違いは?

クライオ電子顕微鏡は、タンパク質などの試料を凍らせたままTEMで見る方法・装置です。サーモフィッシャーのTalos 12は、細胞や組織のTEM、STEMとEDSでの分析、クライオ電子顕微鏡の入門機のどれにも組めます。日本電子のJEM‑120iも、汎用のTEMでクライオ観察をする事例を公開しています。

設備担当の疑問FIB‑SEMとは? 何に使う?

FIB‑SEMは、Gaなどのイオンビームで試料を削るFIBとFE‑SEMを1台にした装置です。日本電子のJIB‑PS500iは、断面を削りながらSEMで見て、TEMで見る薄い試料をその場で作れます。Gaイオンビームは最大100nAで、試料作製の自動化(STEMPLING2)もオプションで付けられます。

購買担当の疑問日立ハイテクやキーエンスの電子顕微鏡は載っている?

キーエンスは、マイクロスコープ・SEM・EDSを1台にしたEB‑3000シリーズを載せています。日立ハイテクは、公式サイトの製品ページをこのページの調べ方で読めず、仕様を確かめられなかったため載せていません。どちらも卓上SEMや汎用SEMを扱っているので、見積もりを取るときは比べる先に入れます。

TYPES

電子顕微鏡の種類の違い

ボタンを押すと、表がその種類の製品だけになります。

卓上SEM

机の上に置ける小型のSEMで、試料を入れて短い時間で像が出ます。電子銃はタングステンかCeB6で、分解能は数nm〜10nm程度です。光学顕微鏡で見えない異物や破断面を、品質管理や研究室で手軽に確かめます。

向いている使い方

  • 品質管理で異物や破断面を見る
  • 光学顕微鏡の次に拡大して確かめる
  • 研究室の机で手軽に見る

根拠:特殊な知識や技術がないどなたでも操作が可能な卓上走査電子顕微鏡(日本電子)(出典2)

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汎用SEM(タングステン・LaB6)

床に置く据え置きのSEMで、電子源にタングステンのフィラメントを使います(LaB6を選べる機種もあります⁠)⁠。試料室が大きく、EDSなど分析の検出器を付けて、材料や異物を調べる分析室の中心になります。分解能は30kVで2.5〜3nmです。

向いている使い方

  • 金属・樹脂の材料解析
  • 大きな部品をそのまま入れる
  • EDSで元素を調べる分析室

根拠:走査電子顕微鏡は、タングステンフィラメントを電子源とする汎用的なものから、電界放出形電子銃を装着した高分解能・高倍率で観察が可能なものまで、様々なタイプがあります(日本電子)(出典1)

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FE‑SEM・FIB‑SEM

電界放出形の電子銃を使うSEMで、1kV前後の低い電圧でも1nm前後まで見分けられます。電子線に弱い試料や、表面のごく浅い所を見るのに向きます。イオンビームで削るFIBを組み合わせたFIB‑SEMは、断面を作りながら見たり、TEMで見る薄い試料を作ったりします。

向いている使い方

  • 半導体・電池材料の微細な構造を見る
  • 電子線に弱い樹脂や生物の試料
  • 断面を作ってTEMの試料を用意する

根拠:試料のごく表面を少ないダメージで見たい場合には、数kV の低い加速電圧が利用されます(日本電子)(出典1)

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TEM(透過型)

電子線を薄い試料に通して、中の構造を0.1〜0.3nmの分解能で見る透過電子顕微鏡です。120kVの機種は生物・高分子に多く使われ、細胞の観察やクライオ電子顕微鏡の入門機にもなります。試料を薄くする前処理と、置く部屋の広さを先に決めます。

向いている使い方

  • 細胞・組織の微細な構造を見る
  • ナノ粒子の形と大きさを測る
  • クライオ電子顕微鏡を始める

根拠:TEMでは、薄い試料を透過した(通り抜けた)電子線を蛍光面に衝突させ、その試料の拡大像を見ている(日本電子)(出典1)

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この比較表のデータ:CSV・JSON(出典を明記すれば引用できます)

掲載基準と並び順

掲載基準:研究開発・品質管理・故障解析で使う電子顕微鏡の本体(卓上SEM、タングステン・LaB6の汎用SEM、電界放出形のFE‑SEM、FIB‑SEM、TEM⁠)に限ります。メーカーが自社で作るか自社グループの製品として売り、公式サイトで今案内している製品で、日本法人のある会社だけです(海外メーカーは日本法人が売るもの⁠)⁠。光学顕微鏡・デジタルマイクロスコープ(マイクロスコープ⁠の比較で扱います⁠)⁠、半導体工場のライン専用の測長SEM・欠陥レビューSEM、EDSなどの検出器だけ、試料作製装置だけ、分析の受託サービス、中古品、代理店や商社が売る他社製品、公式サイトの文字で仕様を確かめられない製品は除いています。日立ハイテクは、公式サイトの製品ページをこのページの調べ方で読めず、仕様を確かめられなかったため載せていません。

並び順:種類ごとに分け、その中はメーカー名の五十音順です。おすすめ順ではなく、掲載料で順番は変えません。

電子顕微鏡を作っているメーカーの方へ:掲載・訂正のご依頼(掲載は無料です)

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