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研究開発・
FE‑SEM・FIB‑SEMのメーカー4社比較【2026年】
FE‑SEMは、
低い
FE‑SEM・FIB‑SEMとは

FE‑SEMとは、
低い
FE‑SEM・
低い
特に、
値段を
500Vで
FIB‑SEMは
※仕組みと
FE‑SEM・FIB‑SEMの比較表
FE‑SEM・FIB‑SEMの価格・相場公開価格(税込)
- 相場価格
- 1,000万円〜SUPERSCAN SS‑4000 LMH
(株式会社島津製作所)
※
| 製品・ | 製品の特徴 | 製品の強み | 使用用途・場所 | 価格 |
|---|---|---|---|---|
| カールツァイス | 500Vで | 低い | 電子線に | 要見積 |
サーモフィッシャー | 作動距離 | 試料から | 分析の | 要見積 |
株式会社 | 約20種類の分析 | TESCANと | 条件を | 1億 |
日本電子 | Ga | イオンビームで削る | 断面を | 要見積 |
出典:
FE‑SEM・FIB‑SEMの使用用途・特徴・メリット
使用用途
どこに
使うか 半導体・電池材料の
微細な構造、 電子線に 弱い樹脂や 生物の試料、 TEMで 見る試料作り。 何の
ために 使うか 低い
電圧で、 表面の ごく浅い所まで 細かく 見るためです。
特徴
どんな
ものか 電界放出形
(ショットキー)の 電子銃を 使う SEMで、 電子線を 細く絞れます。 イオンビームで削る FIBを 組み合わせた FIB‑SEMも あります。 強み
低い
電圧でも 細かく 見られ、 サーモフィッシャーの Apreo 2 Sは 1kVで 0.9nm 、ツァイスの Sigma 360は 500Vで 1.9nmです。 日本電子の JIB‑PS500iは Ga イオンビーム が最大100nAで、 大きな 断面も 短い時間で 削れます。
メリット
使う
メリット 電子線に
弱い試料を、 傷めずに 細かく 見られます。 島津の SS‑4000 LMHは 電圧や 電流を 変えても 明るさと 焦点を 自動で 合わせ直すので、 条件を 変えながらの 観察が 速く進みます。 タングステンの汎用
SEMに 比べた メリット タングステンの
EVO 10は 30kVで 2.5nmですが、 FE‑SEMの Sigma 360は 500Vで 1.9nmと、 低い電圧でもより 細かく 見られます。 電子線に 弱い試料や 表面の ごく浅い所を 見るなら、 FE‑SEMです。
電子顕微鏡を
選ぶときに注意すること
低い
電圧の 分解能で 比べる Apreo 2 Sは
1kVで 0.9nm、 SS‑4000 LMHは 1keVで 1.3nm、 Sigma 360は 500Vで 1.9nmです。 電子線に 弱い試料を 見るなら、 低い 電圧の数字 で比べます。 よく
ある失敗 15kVの分解能だけを見て、 低い電圧で 見たい 試料の 機種を選ぶ。 加速電圧が
高いほど、 試料の ダメージも 増える 加速電圧が
高いほど 分解能は 上がりますが、 試料の ダメージも 増えます。 表面を 少ない ダメージで 見るなら、 数kVの 低い電圧 で見ます。よく
ある失敗 樹脂の試料を 高い電圧で見て、 表面を 傷める。 低真空の
有無を、型で 確かめる Sigma 360は
NanoVP liteで 10〜133Pa、 Apreo 2 Sは オプション で10〜500Pa です。 SS‑4000 LMHは 低真空が無く、 GMUの型が 7〜500Paです。 よく
ある失敗 電気を通さない 試料が 多いのに、 低真空の 無い型を選ぶ。 値段は
1億円を 超える ことがある 島津の
SS‑4000は、 LMHが 1億 1,000万円から、 GMUが 1億 2914万円から (税込)です。汎用 SEMより 高いので、 低い電圧で 見る必要が あるかを 先に決めます。 よく
ある失敗 汎用SEMの 感覚で 予算を組み、 FE‑SEMが 買えない。
FE‑SEM・FIB‑SEM選びで、よくある疑問

購買担当の疑問 FE‑SEMはいくら?
値段を

総務の疑問低い電圧で、どこまで細かく見える?
サーモフィッシャーの

設備担当の疑問 FIB‑SEMとは? 何に使う?
FIB‑SEMは、

工場長の疑問樹脂や生物の試料を、傷めずに見たい
低い

施設管理の疑問電気を通さない試料も見られる?
低真空の

経営者の疑問元素の分布を、像と一緒に見たい
サーモフィッシャーの

総務の疑問使う人の腕で、結果が変わらない機種は?
サーモフィッシャーの

設備担当の疑問試料の大きさは?
日本電子の

購買担当の疑問倍率はどこまで上がる?
島津の

工場長の疑問 FE‑SEMとタングステンの汎用SEMの違いは?
FE‑SEMは
FE‑SEM・FIB‑SEMの主なメーカー4社
カールツァイス株式会社
- 特徴
- ドイツの
ZEISSグループの 日本法人。 1911年に カールツァイス 合資会社として 設立され、 札幌・仙台・ 東京・名古屋・ 大阪・ 福岡に 事業所を置く。 - 強み
- 全国6事業所と工場
- 1846年の
顕微鏡工房から
サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社
- 特徴
- 米国サーモ
フィッシャー サイエンティフィックの 日本法人。 分析機器などの 輸出入販売と 保守サービスを行う。 - 強み
- 実験系の
立ち上げを 代わりに組む - 次世代
シーケンサーの 代行分析と解析
- 実験系の
東京都
電子顕微鏡の関連製品の比較表
計測機器・センサー卓上
計測機器・センサー汎用分析室の
計測機器・センサー卓上机に
計測機器・センサー薄い
出典
- 日本電子 走査電子顕微鏡 (SEM)
(JEOL 装置入門) - 日本電子 走査電子顕微鏡 (SEM) 製品情報
- 日本電子 JCM-7000Plus NeoScope
- 日本電子 JIB-PS500i FIB-SEM
システム - 日本電子 JEM-120i 電子顕微鏡
- 日本電子 JCM-7000 NeoScope 販売開始
(2019年・本体標準価格) - サーモ
フィッシャー サイエンティフィック Phenom XL G3 Desktop SEM - サーモ
フィッシャー サイエンティフィック Phenom XL G3 データシート - サーモ
フィッシャー サイエンティフィック Apreo 2 SEM - サーモ
フィッシャー サイエンティフィック 走査電子顕微鏡 - サーモ
フィッシャー サイエンティフィック Talos 12 TEM - サーモ
フィッシャー サイエンティフィック Talos 12 TEM パンフレット - カールツァイス ZEISS EVO
- カールツァイス ZEISS EVO 製品情報(PDF)
- カールツァイス ZEISS Sigma
- カールツァイス ZEISS Sigma ファミリー 製品情報(PDF)
- 島津製作所 SUPERSCAN SS-2000 仕様
- 島津製作所 SUPERSCAN SS-2000 発売
(希望販売価格) - 島津製作所 SUPERSCAN SS-3000 発売
(希望販売価格) - 島津製作所 SUPERSCAN SS-4000 仕様
- 島津製作所 SUPERSCAN SS-4000 発売
(希望販売価格) - テクネックス工房 TinySEM Mighty-8DX
- 松定プレシジョン PrecisionSEM5600
- キーエンス 電子顕微鏡(SEM)
EB-3000シリーズ
掲載基準
電界放出形
FE‑SEM・


