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FE‑SEM・FIB‑SEMのメーカー4社比較【2026年】

FE‑SEMは、電界放出形の電子銃で電子線を細く絞り、
低い電圧でも1nm前後まで見分ける走査電子顕微鏡です。

ABOUT

FE‑SEM・FIB‑SEMとは

FE‑SEMとは、電界放出形の電子銃で電子線を細く絞る走査電子顕微鏡です。
低い電圧でも細かく見られるので、電子線に弱い試料や、表面のごく浅い所を見ます。イオンビームで削るFIBを組み合わせたFIB‑SEMもあります。

FE‑SEM・FIB‑SEMは、
低い電圧での分解能・低真空・元素分析(EDS)⁠・試料の大きさ・値段で比べて選びます。

特に、1kVで0.9nmなのはサーモフィッシャーサイエンティフィックのApreo 2 S、
値段を公式に出しているのは島津製作所(SS‑4000 LMHで1億1,000万円から(税込))、
500Vで1.9nmなのはカールツァイスのSigma 360、
FIB‑SEMは日本電子のJIB‑PS500iです。

※仕組みと分解能の範囲は日本電子の解説(走査電子顕微鏡 SEM)による。各製品の仕様と値段は、各メーカーの公式の製品ページ・カタログ・ニュースリリースの記載。

LIST

FE‑SEM・FIB‑SEMの比較表

FE‑SEM・FIB‑SEMの価格・相場公開価格(税込)

※公開価格の無い製品(3製品・各社 要見積)は入れていません

FE‑SEM・FIB‑SEM4製品の比較
製品・メーカー製品の特徴製品の強み使用用途・場所価格
カールツァイス株式会社ZEISS Sigma 360製品の詳細を見るメーカー公式サイトzeiss.com

500Vで1.9nm

低い加速電圧に強いFE‑SEMで、500Vでも1.9nmの分解能があります。電子線に弱い樹脂や生物の試料、電気を通さない試料を、コーティングを減らして見られます。低真空のNanoVP liteモードは10〜133Paで使えます。

電子線に弱い樹脂・生物の試料や、電気を通さない試料を見る研究室

要見積
サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社Apreo 2 S製品の詳細を見るメーカー公式サイトthermofisher.com

作動距離10mmで1nm

試料からレンズまで10mm離した分析の位置のまま、1nm級の分解能で撮れるFE‑SEMです。EDSを付けると、SEM像に元素の色をその場で重ねて見られます(ChemiSEM)。軸合わせや焦点合わせを自動でするので、使う人の腕で結果が変わりにくい装置です。

分析の位置のまま高分解能で撮り、元素も見る材料解析

要見積
株式会社島津製作所SUPERSCAN SS‑4000 LMH製品の詳細を見るメーカー公式サイトan.shimadzu.co.jp

約20種類の分析オプション

TESCANと組んだ島津ブランドの超高分解能FE‑SEMで、1keVでも1.3nmの分解能があります。電圧や電流を変えても明るさと焦点を自動で合わせ直すので、条件を変えながらの観察が速く進みます。LMHは標準の試料室の高真空の型で、1億1,000万円から(税込)⁠で⁠す⁠。

条件を変えながら細かい構造を見る研究開発

1億1,000万円〜⁠税込
日本電子株式会社JIB‑PS500i製品の詳細を見るメーカー公式サイトjeol.co.jp

Gaイオンビームは最大100nA

イオンビームで削るFIBとFE‑SEMを1台にしたFIB‑SEMで、TEMで見る薄い試料を作りながらその場で確かめられます。Gaイオンビームは最大100nAで、大きな断面も短い時間で削れます。直径130mmの試料の全面で加工と観察ができます。

断面を削りながら見て、TEMで見る薄い試料を作る解析の現場

要見積
FEATURES

FE‑SEM・FIB‑SEMの使用用途・特徴・メリット

使用用途

  • どこに使うか

    半導体・電池材料の微細な構造、電子線に弱い樹脂や生物の試料、TEMで見る試料作り。

  • 何のために使うか

    低い電圧で、表面のごく浅い所まで細かく見るためです。

特徴

  • どんなものか

    電界放出形(ショットキー)の電子銃を使うSEMで、電子線を細く絞れます。イオンビームで削るFIBを組み合わせたFIB‑SEMもあります。

  • 強み

    低い電圧でも細かく見られ、サーモフィッシャーのApreo 2 Sは1kVで0.9nm、ツァイスのSigma 360は500Vで1.9nmです。日本電子のJIB‑PS500iはGaイオンビームが最大100nAで、大きな断面も短い時間で削れます。

メリット

  • 使うメリット

    電子線に弱い試料を、傷めずに細かく見られます。島津のSS‑4000 LMHは電圧や電流を変えても明るさと焦点を自動で合わせ直すので、条件を変えながらの観察が速く進みます。

  • タングステンの汎用SEMに比べたメリット

    タングステンのEVO 10は30kVで2.5nmですが、FE‑SEMのSigma 360は500Vで1.9nmと、低い電圧でもより細かく見られます。電子線に弱い試料や表面のごく浅い所を見るなら、FE‑SEMです。

電子顕微鏡を入れる根本の理由は、光学顕微鏡では見えない傷・異物・構造を見て、原因と正体を確かめることです。使うメリットをくわしく

選ぶときに注意すること

  1. 低い電圧の分解能で比べる

    Apreo 2 Sは1kVで0.9nm、SS‑4000 LMHは1keVで1.3nm、Sigma 360は500Vで1.9nmです。電子線に弱い試料を見るなら、低い電圧の数字で比べます。

    よくある失敗15kVの分解能だけを見て、低い電圧で見たい試料の機種を選ぶ。

  2. 加速電圧が高いほど、試料のダメージも増える

    加速電圧が高いほど分解能は上がりますが、試料のダメージも増えます。表面を少ないダメージで見るなら、数kVの低い電圧で見ます。

    よくある失敗樹脂の試料を高い電圧で見て、表面を傷める。

  3. 低真空の有無を、型で確かめる

    Sigma 360はNanoVP liteで10〜133Pa、Apreo 2 Sはオプションで10〜500Paです。SS‑4000 LMHは低真空が無く、GMUの型が7〜500Paです。

    よくある失敗電気を通さない試料が多いのに、低真空の無い型を選ぶ。

  4. 値段は1億円を超えることがある

    島津のSS‑4000は、LMHが1億1,000万円から、GMUが1億2914万円から(税込)⁠で⁠す⁠。汎用SEMより高いので、低い電圧で見る必要があるかを先に決めます。

    よくある失敗汎用SEMの感覚で予算を組み、FE‑SEMが買えない。

Q&A

FE‑SEM・FIB‑SEM選びで、よくある疑問

購買担当の疑問FE‑SEMはいくら?

値段を公式に出しているのは島津製作所で、SS‑4000 LMHが1億1,000万円から(税込)、GMUの型は1億2914万円から(税込)⁠で⁠す⁠。ツァイスのSigma 360、サーモフィッシャーのApreo 2 S、日本電子のJIB‑PS500iは、試料と使い方を伝えて見積もりを取ります。

総務の疑問低い電圧で、どこまで細かく見える?

サーモフィッシャーのApreo 2 Sは1kVで0.9nm、島津のSS‑4000 LMHは1keVで1.3nm、ツァイスのSigma 360は500Vで1.9nmです。電子線に弱い試料や表面のごく浅い所を見るなら、低い電圧の分解能で比べて選びます。

設備担当の疑問FIB‑SEMとは? 何に使う?

FIB‑SEMは、Gaなどのイオンビームで試料を削るFIBとFE‑SEMを1台にした装置です。日本電子のJIB‑PS500iは、断面を削りながらSEMで見て、TEMで見る薄い試料をその場で作れます。Gaイオンビームは最大100nAで、試料作りの自動化(STEMPLING2)もオプションです。

工場長の疑問樹脂や生物の試料を、傷めずに見たい

低い電圧で細かく見られるFE‑SEMを選びます。加速電圧が高いほど分解能は上がりますが、試料のダメージも増えます。ツァイスのSigma 360は500Vでも1.9nmで、電子線に弱い樹脂や生物の試料、電気を通さない試料を、コーティングを減らして見られます。

施設管理の疑問電気を通さない試料も見られる?

低真空のある機種なら見られます。ツァイスのSigma 360はNanoVP liteで10〜133Pa、サーモフィッシャーのApreo 2 Sはオプションで10〜500Paです。島津のSS‑4000 LMHは低真空が無く、GMUの型が7〜500Paです。電気を通さない試料が多いなら、低真空の範囲で選びます。

経営者の疑問元素の分布を、像と一緒に見たい

サーモフィッシャーのApreo 2 Sは、EDSを付けるとSEM像に元素の色をその場で重ねて見られます(ChemiSEM)。試料からレンズまで10mm離した分析の位置のまま、1nm級の分解能で撮れます。島津のSS‑4000は約20種類の分析のオプションに対応します。

総務の疑問使う人の腕で、結果が変わらない機種は?

サーモフィッシャーのApreo 2 Sは軸合わせや焦点合わせを自動でするので、使う人の腕で結果が変わりにくい装置です。島津のSS‑4000 LMHも、電圧や電流を変えても明るさと焦点を自動で合わせ直します。何人で使うかを決めてから、自動の機能を比べます。

設備担当の疑問試料の大きさは?

日本電子のJIB‑PS500iは、直径130mm・高さ80mmまでの試料の全面で加工と観察ができます。島津のSS‑4000 LMHは直径100mm・高さ39mm、サーモフィッシャーのApreo 2 Sはステージ110×110mm・5kgまでです。入れたい試料の寸法を測ってから選びます。

購買担当の疑問倍率はどこまで上がる?

島津のSS‑4000 LMHは2〜2,000,000倍、ツァイスのSigma 360は10〜1,000,000倍、日本電子のJIB‑PS500iのSEMは50〜1,000,000倍です。倍率は画面の大きさで変わるので、細かさを比べるときは分解能を見て選びます。

工場長の疑問FE‑SEMとタングステンの汎用SEMの違いは?

FE‑SEMは電子線を細く絞れるので、低い電圧でも細かく見られます。ツァイスのSigma 360は500Vで1.9nm、タングステンのツァイスEVO 10は30kVで2.5nmです。電子線に弱い試料や表面のごく浅い所を見るならFE‑SEM、30kVでふつうに見るなら汎用SEMで足ります。

MAKERS

FE‑SEM・FIB‑SEMの主なメーカー4社

カールツァイス株式会社

特徴
ドイツのZEISSグループの日本法人。 1911年にカールツァイス合資会社として設立され、札幌・仙台・東京・名古屋・大阪・福岡に事業所を置く。
強み
  • 全国6事業所と工場
  • 1846年の顕微鏡工房から

サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社

特徴
米国サーモフィッシャーサイエンティフィックの日本法人。 分析機器などの輸出入販売と保守サービスを行う。
強み
  • 実験系の立ち上げを代わりに組む
  • 次世代シーケンサーの代行分析と解析

東京都

株式会社島津製作所

特徴
1875年3月創業、1917年9月設立。 本社は京都市中京区。
強み
  • 研究と品質管理の分析機器
  • 半導体から建機の部品まで

京都府

日本電子株式会社

特徴
東京都昭島市に本社を置き、1949年5月30日に設立された。
強み
  • 電子顕微鏡とNMRのハイエンド機器を持つ
  • 海外25カ所の販売・サポート拠点

東京都

出典
  1. 日本電子 走査電子顕微鏡 (SEM)(JEOL 装置入門)
  2. 日本電子 走査電子顕微鏡 (SEM) 製品情報
  3. 日本電子 JCM-7000Plus NeoScope
  4. 日本電子 JIB-PS500i FIB-SEMシステム
  5. 日本電子 JEM-120i 電子顕微鏡
  6. 日本電子 JCM-7000 NeoScope 販売開始(2019年・本体標準価格)
  7. サーモフィッシャーサイエンティフィック Phenom XL G3 Desktop SEM
  8. サーモフィッシャーサイエンティフィック Phenom XL G3 データシート
  9. サーモフィッシャーサイエンティフィック Apreo 2 SEM
  10. サーモフィッシャーサイエンティフィック 走査電子顕微鏡
  11. サーモフィッシャーサイエンティフィック Talos 12 TEM
  12. サーモフィッシャーサイエンティフィック Talos 12 TEM パンフレット
  13. カールツァイス ZEISS EVO
  14. カールツァイス ZEISS EVO 製品情報(PDF)
  15. カールツァイス ZEISS Sigma
  16. カールツァイス ZEISS Sigma ファミリー 製品情報(PDF)
  17. 島津製作所 SUPERSCAN SS-2000 ⁠仕様
  18. 島津製作所 SUPERSCAN SS-2000 発売(希望販売価格)
  19. 島津製作所 SUPERSCAN SS-3000 発売(希望販売価格)
  20. 島津製作所 SUPERSCAN SS-4000 ⁠仕様
  21. 島津製作所 SUPERSCAN SS-4000 発売(希望販売価格)
  22. テクネックス工房 TinySEM Mighty-8DX
  23. 松定プレシジョン PrecisionSEM5600
  24. キーエンス 電子顕微鏡(SEM)EB-3000シリーズ
掲載基準

電界放出形(ショットキー)の電子銃を使う走査電子顕微鏡(FE‑SEM)と、FIBを組み合わせたFIB‑SEM。メーカーが自社で作るか自社グループの製品として売り、公式サイトで今案内している製品で、日本法人のある会社だけです。中古品・代理店が売る他社の製品は除いています。卓上SEM、タングステン・LaB6の汎用SEM、TEMは、それぞれの種類のページに分けています。

FE‑SEM・FIB‑SEMを作っているメーカーの方へ:掲載・訂正のご依頼(掲載は無料です)

CITE

引用

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