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レンズ・平面板・ウェーハの面の形や透過波面、工作機械の位置決め精度をレーザー干渉計で測る、品質管理・検査・設備・購買の担当の方へ

レーザー干渉計のメーカー5社比較【2026年】

レーザー干渉計は、レーザー光の干渉縞で、
面の形や長さをナノメートル単位で測る測定機です。

ABOUT

レーザー干渉計とは

比較表を見る ↓

レーザー干渉計とは、レーザー光の干渉縞で、
レンズや平面板・ウェーハの面の形や透過波面、
機械の動いた長さを測る測定機です。
面を測るフィゾー型・トワイマングリーン型・斜入射型と、
長さを測る測長用があります。
干渉計・レーザー干渉測定機とも呼びます。

製品の特長

  • 触らずに測れる(研磨した鏡面なら材質によらない)
  • 面全体を一度に見られる(干渉縞で面の凹凸がわかる)
  • ナノメートル単位で測れる(測長用は分解能1nm)

使うメリット

  • 傷をつけずに合否を決められる(レンズ・平面板)
  • 面の形を数値と図で残せる(縞解析装置・解析ソフト)
  • 機械の誤差を見つけて補正できる(測長用)

選ぶときに注意すること

  1. 面を測る型は、研磨した鏡面が前提。粗面は斜入射型を選ぶ
  2. 振動と空気の揺らぎで縞が乱れる。防振台か振動に強い型を使う
  3. 縞を数値にするには、縞解析装置か解析ソフトがいる
  4. 測る口径より大きな光束の型を選ぶ。足りなければ口径変換レンズを付ける
  5. 測長用は、温度と気圧の補正ユニットを組み合わせる

※仕様は各メーカーの公式の製品ページによる。値段はどのメーカーも公式に出していない。

LIST

レーザー干渉計の比較表

レーザー干渉計8製品の比較
製品・メーカーコスト製品の強み仕様公式ページ

フィゾー型(平面・球面)

3製品
株式会社清原光学大口径表面形状測定器直径300mm以上の大きな平面口コミを書く要見積

直径300〜600mmの大きな面を一度に測る、フィゾー型の干渉計です。瞬間位相シフトの干渉計を使うので振動に強く、1〜6倍のズームも付いています。600mmより大きい口径は個別に相談します。

方式
フィゾー型(平面・球面)
干渉方式
フィゾー型、位相シフト
測定口径・範囲
直径300〜600mm
光源・波長
632.8nmレーザ
精度・感度
表面形状を0.1μm以上の精度で解析
測る物
大口径の表面形状
特長
振動に強い、1〜6倍ズーム付き
記載なし
寸法・質量・電源・解析
公式ページへ詳細・仕様
富士フイルム株式会社コンパクトレーザー干渉計 F601直径60mmまでの平面板の検査口コミを書く要見積

直径60mmの光で平面板の平面度と透過波面を見る、机に置ける小型の干渉計です。2倍のビームコンプレッサを付けると、直径5〜25mm程度の小さな部品も測れます。反射率の低い物を測るなら、超低反射測定用に改造できます。

方式
フィゾー型(平面・球面)
干渉方式
フィゾー型
測定口径・範囲
直径60mm
光源・波長
He-Neレーザー、632.8nm
精度・感度
測定感度λ/2(0.3μm/縞)、基準面精度λ/20
測る物
平面板の平面度、透過波面
寸法
約300×320×590mm
質量
約30kg
電源
AC100V、1A
特長
ビームコンプレッサ併用で直径5〜25mm程度、超低反射測定用に改造可
記載なし
解析
公式ページへ詳細・仕様
富士フイルム株式会社レーザー干渉計 G102直径15〜150mmの平面を1台で口コミを書く要見積

8.6倍のズームレンズを内蔵し、直径15mmの小物から150mmの平面板まで1台で測れます。コリメーターレンズを替えると最大直径150mmまで広がります。フォーカス・光量・アライメント切替・ズームは手元のリモコンで動かせます。

方式
フィゾー型(平面・球面)
干渉方式
フィゾー型
測定口径・範囲
直径102mm、直径150mm
光源・波長
He-Neレーザー、632.8nm
精度・感度
測定感度λ/2(0.3μm/縞)、基準面精度λ/20
測る物
平面板の平面度、透過波面
寸法
約305×365×765mm
質量
約56kg
電源
AC100V、2A
特長
8.6倍ズーム、直径15〜150mm、リモコン操作
記載なし
解析
公式ページへ詳細・仕様

トワイマングリーン型(小口径・波面)

2製品
株式会社清原光学小型位相シフトレーザ干渉計直径1〜6mmの小さなレンズの波面口コミを書く要見積

直径1〜6mmの小さな光学部品の透過波面と面形状を測る、トワイマングリーン型の干渉計です。ピックアップレンズ・位相板・光学窓の評価に使い、繰り返し精度はλ/100以上です。ピエゾ方式の位相シフト機構を内蔵し、製造現場の検査に置けます。

方式
トワイマングリーン型(小口径・波面)
干渉方式
トワイマングリーン型、位相シフト
測定口径・範囲
直径1〜6mm
光源・波長
半導体レーザ(410・635・670・780nm等)
精度・感度
繰り返し精度λ/100以上
測る物
小口径光学部品の透過波面、面形状
寸法
170×180×250mm
質量
約5kg
解析
IntelliWave KL2 Version
特長
ピエゾ方式の位相シフト機構を内蔵
記載なし
電源
公式ページへ詳細・仕様
トライオプティクス・ジャパン株式会社デジタルレーザー干渉計 μPhase加工機や組立台に組み込む口コミを書く要見積

本体が110×45×70mmと小さく、加工機や組立台に組み込んで使える位相シフト干渉計です。口径変換レンズで最大直径150mmの平面・球面・透過波面を測れます。波長は632.8nmが標準で、355〜1064nmの光源も選べます。

方式
トワイマングリーン型(小口径・波面)
干渉方式
トワイマングリーン型(フィゾーへ切換可能)、位相シフト
測定口径・範囲
最大直径150mm(口径変換レンズ使用)
光源・波長
632.8nm標準、355〜1064nm
測る物
平面反射、球面反射、透過波面
寸法
110×45×70mm
解析
μShape、1000×1000画素・500×500画素
特長
加工機への組込み、モジュラー型
記載なし
精度・感度・質量・電源
公式ページへ詳細・仕様

斜入射型(ウェーハ・粗面)

2製品
株式会社ニデックフラットネステスター FT-17直径100mm以下の平坦度の検査口コミを書く要見積

外径直径130mm以下のサンプルを測る、斜入射干渉の小さいほうのフラットネステスターです。平坦度は直径100mm以下まで測れ、HDD用の磁気ディスクも測れます。使う前はサンプルの点検だけで、特別なキャリブレーションはいりません。

方式
斜入射型(ウェーハ・粗面)
干渉方式
斜入射干渉、位相シフト
測定口径・範囲
外径直径130mm以下(平坦度は直径100mm以下)
測る物
半導体用ウェーハ、HDD用磁気ディスク、金属片
解析
専用解析装置、等高線図・鳥瞰図・断面図
特長
透明体の裏面干渉を低減、キャリブレーション不要
記載なし
光源・波長・精度・感度・寸法・質量・電源
公式ページへ詳細・仕様
株式会社ニデックフラットネステスター FT-900ウェーハや粗面の平坦度口コミを書く要見積

レーザー光を斜めに当てて干渉縞を作るので、鏡面だけでなく粗面や穴あき、透明体の平坦度も測れます。外径直径200mm以下のウェーハや角型の板を、全面一括で短時間に測ります。透明体の厚さむらは、オプションのソフトで解析します。

方式
斜入射型(ウェーハ・粗面)
干渉方式
斜入射干渉、位相シフト
測定口径・範囲
外径直径200mm以下
測る物
半導体ウェーハ、HDD用磁気ディスク、金属片
解析
専用解析装置、等高線図・鳥瞰図・断面図
特長
透明体の裏面干渉を低減、キャリブレーション不要
記載なし
光源・波長・精度・感度・寸法・質量・電源
公式ページへ詳細・仕様

測長用(機械の校正)

1製品
レニショー株式会社レーザー干渉計システム XL-80工作機械の位置決め精度の校正口コミを書く要見積

工作機械や三次元測定機の位置決め・角度・真直度を測る、持ち運べる測長用の干渉計です。位置決め測定は80mまでで、精度は全環境範囲で±0.5ppm、分解能は1nmです。XC-80環境補正ユニットと組み合わせて精度を上げ、標準で3年保証が付きます。

方式
測長用(機械の校正)
干渉方式
測長用レーザー干渉計
測定口径・範囲
位置決め測定80mまで
精度・感度
位置決め測定精度±0.5ppm
測る物
工作機械・三次元測定機の位置決め、角度、真直度、直角度
質量
ケース込み12kg
解析
50kHz・最大4m/s、分解能1nm
特長
XC-80環境補正ユニット、保証3年
記載なし
光源・波長・寸法・電源
公式ページへ詳細・仕様

フィゾー型(平面・球面)3製品

株式会社清原光学

大口径表面形状測定器

直径300mm以上の大きな平面

直径300〜600mmの大きな面を一度に測る、フィゾー型の干渉計です。瞬間位相シフトの干渉計を使うので振動に強く、1〜6倍のズームも付いています。600mmより大きい口径は個別に相談します。

コスト要見積

方式
フィゾー型(平面・球面)
干渉方式
フィゾー型、位相シフト
測定口径・範囲
直径300〜600mm
光源・波長
632.8nmレーザ
精度・感度
表面形状を0.1μm以上の精度で解析
測る物
大口径の表面形状
特長
振動に強い、1〜6倍ズーム付き
記載なし
寸法・質量・電源・解析
公式ページへ
富士フイルム株式会社

コンパクトレーザー干渉計 F601

直径60mmまでの平面板の検査

直径60mmの光で平面板の平面度と透過波面を見る、机に置ける小型の干渉計です。2倍のビームコンプレッサを付けると、直径5〜25mm程度の小さな部品も測れます。反射率の低い物を測るなら、超低反射測定用に改造できます。

コスト要見積

方式
フィゾー型(平面・球面)
干渉方式
フィゾー型
測定口径・範囲
直径60mm
光源・波長
He-Neレーザー、632.8nm
精度・感度
測定感度λ/2(0.3μm/縞)、基準面精度λ/20
測る物
平面板の平面度、透過波面
寸法
約300×320×590mm
質量
約30kg
電源
AC100V、1A
特長
ビームコンプレッサ併用で直径5〜25mm程度、超低反射測定用に改造可
記載なし
解析
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富士フイルム株式会社

レーザー干渉計 G102

直径15〜150mmの平面を1台で

8.6倍のズームレンズを内蔵し、直径15mmの小物から150mmの平面板まで1台で測れます。コリメーターレンズを替えると最大直径150mmまで広がります。フォーカス・光量・アライメント切替・ズームは手元のリモコンで動かせます。

コスト要見積

方式
フィゾー型(平面・球面)
干渉方式
フィゾー型
測定口径・範囲
直径102mm、直径150mm
光源・波長
He-Neレーザー、632.8nm
精度・感度
測定感度λ/2(0.3μm/縞)、基準面精度λ/20
測る物
平面板の平面度、透過波面
寸法
約305×365×765mm
質量
約56kg
電源
AC100V、2A
特長
8.6倍ズーム、直径15〜150mm、リモコン操作
記載なし
解析
公式ページへ

トワイマングリーン型(小口径・波面)2製品

株式会社清原光学

小型位相シフトレーザ干渉計

直径1〜6mmの小さなレンズの波面

直径1〜6mmの小さな光学部品の透過波面と面形状を測る、トワイマングリーン型の干渉計です。ピックアップレンズ・位相板・光学窓の評価に使い、繰り返し精度はλ/100以上です。ピエゾ方式の位相シフト機構を内蔵し、製造現場の検査に置けます。

コスト要見積

方式
トワイマングリーン型(小口径・波面)
干渉方式
トワイマングリーン型、位相シフト
測定口径・範囲
直径1〜6mm
光源・波長
半導体レーザ(410・635・670・780nm等)
精度・感度
繰り返し精度λ/100以上
測る物
小口径光学部品の透過波面、面形状
寸法
170×180×250mm
質量
約5kg
解析
IntelliWave KL2 Version
特長
ピエゾ方式の位相シフト機構を内蔵
記載なし
電源
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トライオプティクス・ジャパン株式会社

デジタルレーザー干渉計 μPhase

加工機や組立台に組み込む

本体が110×45×70mmと小さく、加工機や組立台に組み込んで使える位相シフト干渉計です。口径変換レンズで最大直径150mmの平面・球面・透過波面を測れます。波長は632.8nmが標準で、355〜1064nmの光源も選べます。

コスト要見積

方式
トワイマングリーン型(小口径・波面)
干渉方式
トワイマングリーン型(フィゾーへ切換可能)、位相シフト
測定口径・範囲
最大直径150mm(口径変換レンズ使用)
光源・波長
632.8nm標準、355〜1064nm
測る物
平面反射、球面反射、透過波面
寸法
110×45×70mm
解析
μShape、1000×1000画素・500×500画素
特長
加工機への組込み、モジュラー型
記載なし
精度・感度・質量・電源
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斜入射型(ウェーハ・粗面)2製品

株式会社ニデック

フラットネステスター FT-17

直径100mm以下の平坦度の検査

外径直径130mm以下のサンプルを測る、斜入射干渉の小さいほうのフラットネステスターです。平坦度は直径100mm以下まで測れ、HDD用の磁気ディスクも測れます。使う前はサンプルの点検だけで、特別なキャリブレーションはいりません。

コスト要見積

方式
斜入射型(ウェーハ・粗面)
干渉方式
斜入射干渉、位相シフト
測定口径・範囲
外径直径130mm以下(平坦度は直径100mm以下)
測る物
半導体用ウェーハ、HDD用磁気ディスク、金属片
解析
専用解析装置、等高線図・鳥瞰図・断面図
特長
透明体の裏面干渉を低減、キャリブレーション不要
記載なし
光源・波長・精度・感度・寸法・質量・電源
公式ページへ
株式会社ニデック

フラットネステスター FT-900

ウェーハや粗面の平坦度

レーザー光を斜めに当てて干渉縞を作るので、鏡面だけでなく粗面や穴あき、透明体の平坦度も測れます。外径直径200mm以下のウェーハや角型の板を、全面一括で短時間に測ります。透明体の厚さむらは、オプションのソフトで解析します。

コスト要見積

方式
斜入射型(ウェーハ・粗面)
干渉方式
斜入射干渉、位相シフト
測定口径・範囲
外径直径200mm以下
測る物
半導体ウェーハ、HDD用磁気ディスク、金属片
解析
専用解析装置、等高線図・鳥瞰図・断面図
特長
透明体の裏面干渉を低減、キャリブレーション不要
記載なし
光源・波長・精度・感度・寸法・質量・電源
公式ページへ

測長用(機械の校正)1製品

レニショー株式会社

レーザー干渉計システム XL-80

工作機械の位置決め精度の校正

工作機械や三次元測定機の位置決め・角度・真直度を測る、持ち運べる測長用の干渉計です。位置決め測定は80mまでで、精度は全環境範囲で±0.5ppm、分解能は1nmです。XC-80環境補正ユニットと組み合わせて精度を上げ、標準で3年保証が付きます。

コスト要見積

方式
測長用(機械の校正)
干渉方式
測長用レーザー干渉計
測定口径・範囲
位置決め測定80mまで
精度・感度
位置決め測定精度±0.5ppm
測る物
工作機械・三次元測定機の位置決め、角度、真直度、直角度
質量
ケース込み12kg
解析
50kHz・最大4m/s、分解能1nm
特長
XC-80環境補正ユニット、保証3年
記載なし
光源・波長・寸法・電源
公式ページへ
Q&A

レーザー干渉計選びで、よくある疑問

購買担当の疑問レーザー干渉計の価格は、いくら?

このページの8製品は、どれも値段を公式に出していません。富士フイルムのG102は防振台・液晶モニター・低反射基準板とのセット販売なので、構成を決めてから見積もりを取ります。

設備担当の疑問レーザー干渉計の種類と違いは?

光の当て方と測る物で4つに分かれます。平面や球面を基準面と比べるフィゾー型、小さな光学部品の透過波面に強いトワイマングリーン型、ウェーハや粗面を測る斜入射型、工作機械の位置決めを測る測長用です。

設備担当の疑問フィゾー型とトワイマングリーン型の違いは?

フィゾー型は基準面と測る面を向かい合わせる型で、富士フイルムのF601やG102のように平面板の検査で広く使います。トワイマングリーン型は光を2つに分ける型で、清原光学の小型位相シフトレーザ干渉計は直径1〜6mmの小さな光学部品の透過波面を測ります。

設備担当の疑問測定口径はどれを選ぶ?

測る面より大きな光束の型を選びます。富士フイルムのF601は直径60mm、G102は直径102mmと150mm、清原光学の大口径表面形状測定器は直径300〜600mmです。トライオプティクスのμPhaseは口径変換レンズで最大直径150mmまで広げられます。

工場長の疑問レーザー干渉計の精度・分解能は?

富士フイルムのF601とG102は測定感度λ/2(0.3μm/縞)、基準面精度λ/20です。清原光学の小型位相シフトレーザ干渉計は繰り返し精度λ/100以上です。測長用のレニショーXL-80は、位置決め測定精度±0.5ppm、分解能1nmです。

設備担当の疑問レーザー干渉計の波長は?

面を測る型の多くは、He-Neレーザーの632.8nmを使います。富士フイルムのF601とG102は632.8nmです。トライオプティクスのμPhaseは632.8nmが標準で、355〜1064nmも選べます。清原光学の小型の型は410・635・670・780nmなどの半導体レーザです。

工場長の疑問ウェーハの平坦度を測るには?

鏡面でない面や透明なウェーハは、光を斜めに当てる斜入射型で測ります。ニデックのFT-900は外径直径200mm以下、FT-17は外径直径130mm以下(平坦度は直径100mm以下)を測れます。透明体の裏面の干渉を減らして測ることもできます。

設備担当の疑問工作機械の位置決め精度をレーザー干渉計で測るには?

測長用の干渉計を機械のそばに据えて測ります。レニショーのXL-80は位置決め測定が80mまでで、角度・真直度・直角度もCARTOソフトウェアで解析します。ケースにXC-80環境補正ユニットとまとめると12kgで、持ち運べます。

施設管理の疑問振動がある場所でも測れる?

振動と空気の揺らぎで縞が乱れるので、防振台に置くのが基本です。富士フイルムのG102は防振台が標準の構成品です。清原光学の大口径表面形状測定器は瞬間位相シフトの干渉計を使うので、振動に強い作りです。

設備担当の疑問反射率の低い面も測れる?

富士フイルムのF601は、反射率が約0.1%の低い被検体向けに、超低反射測定用に改造できます。富士フイルムの干渉計は、研磨した鏡面なら材質によらずほとんど非接触で測れます。

施設管理の疑問レーザー干渉計の校正の周期は?

レニショーは、XL-80の推奨校正期間を通常環境下で3年としています。レーザー周波数確度は3年間にわたって±0.05ppmを保ちます。面を測る型は、基準面(基準板)の精度が測定の基準です。

TYPES

レーザー干渉計の方式の違い

フィゾー型(平面・球面)

基準面と測る面を向かい合わせ、2つの面で返ってきた光の干渉縞で面の形を見る型です。構成が簡単で、平面板やレンズの面精度の検査で広く使います。口径は直径60mmの小型から、直径300mm以上の大口径まであります。

向いている使い方

  • 平面板・ミラーの平面度
  • レンズ・鋼球の球面
  • 量産品の合否判定

根拠:富士フイルム平面測定システムは、ガラス・金属・セラミックなどの高精度な平面板をはじめ、さまざまな平面形状のものをナノメータオーダーで測定できる(出典1)

この方式の3製品を表で見る

トワイマングリーン型(小口径・波面)

光を2つに分け、基準の鏡と測る物で返った光を重ねる型です。小さなレンズや光学窓の透過波面を測るのに向きます。本体を小さく作れるので、加工機や検査台に組み込む使い方もあります。

向いている使い方

  • 小さなレンズの透過波面
  • ピックアップレンズの評価
  • 加工機への組み込み

根拠:トワイマングリーン(フィゾーへ切換可能)干渉計を基本に、口径変換レンズで最大150mmΦまでの平面反射、球面反射、透過波面が測定可能。(出典6)

この方式の2製品を表で見る

斜入射型(ウェーハ・粗面)

レーザー光を面に斜めに当てて干渉縞を作る型です。鏡面でない粗い面や、穴あき・透明な物の平坦度も測れます。半導体ウェーハや磁気ディスクの平坦度の検査で使います。

向いている使い方

  • ウェーハの平坦度・TTV
  • ラップ面などの粗面
  • 透明体の厚さむら

根拠:サンプルは粗面から鏡面、透明体や穴あき、異型まで幅広く対応します。(出典8)

この方式の2製品を表で見る

測長用(機械の校正)

レーザー光の波長を物差しにして、機械が動いた長さを測る型です。工作機械や三次元測定機の位置決め・真直度・直角度を測り、誤差を補正するのに使います。持ち運んで機械のそばに据えます。

向いている使い方

  • 工作機械の位置決め精度
  • 三次元測定機の校正
  • 組立時の真直度・直角度

根拠:XL-80 レーザー干渉計システムは、三次元測定機や工作機械などのモーションシステムに最適なソリューションです。(出典7)

この方式の1製品を表で見る
MAKERS

レーザー干渉計の主なメーカー5社

株式会社清原光学

直径300〜600mmの大きな面を一度に測る、フィゾー型の干渉計です。

東京都

トライオプティクス・ジャパン株式会社

本体が110×45×70mmと小さく、加工機や組立台に組み込んで使える位相シフト干渉計です。

静岡県

株式会社ニデック

外径直径130mm以下のサンプルを測る、斜入射干渉の小さいほうのフラットネステスターです。

愛知県

富士フイルム株式会社

直径60mmの光で平面板の平面度と透過波面を見る、机に置ける小型の干渉計です。

レニショー株式会社

工作機械や三次元測定機の位置決め・角度・真直度を測る、持ち運べる測長用の干渉計です。

東京都

出典
  1. 富士フイルム レーザー干渉計(測定機)
  2. 富士フイルム コンパクトレーザー干渉計 F601
  3. 富士フイルム レーザー干渉計 G102
  4. 清原光学 小型位相シフトレーザ干渉計
  5. 清原光学 大口径表面形状測定器
  6. トライオプティクス・ジャパン μPhase
  7. レニショー XL-80 レーザー干渉計システム
  8. ニデック フラットネステスター FT-900
  9. ニデック フラットネステスター FT-17
掲載基準

光学部品・平面板・ウェーハなどの面の形や透過波面を測るレーザー干渉計(フィゾー型・トワイマングリーン型・斜入射型)と、工作機械・三次元測定機の位置決めを測る測長用のレーザー干渉計で、自社またはグループで作り、日本の会社が公式サイトで今案内していて、仕様を公式で確かめられた製品です。1社2製品まで載せています。白色光の干渉計は表面粗さ測定機、距離を測るレーザー距離計とレーザー変位計は別のページで扱います。ザイゴ(アメテック)は日本語の公式ページで日本の窓口と製品の仕様を確かめられず、東明技研は公式サイトが見つからず、キーサイト・テクノロジーは公式サイトが取得を拒み仕様を確かめられなかったので、今回は載せていません。キヤノンマーケティングジャパンが売るAPRE社の干渉計、清原光学が売るAPRE社のSシリーズ、トライオプティクス・ジャパンが売るInterOptics社のOptoFlatのような他社製品、干渉計のアクセサリだけ、中古品は除いています。

レーザー干渉計を作っているメーカーの方へ:掲載・訂正のご依頼(掲載は無料です)

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