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レーザー干渉計測長用（機械の校正）

レーザー干渉計システム XL-80

レニショー株式会社

レニショーの機械キャリブレーション用レーザー干渉計システムです。

価格
公開価格なし（見積もり）
方式
測長用（機械の校正）
向いている所
工作機械の位置決め精度の校正
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比較表での位置

レーザー干渉計システム XL-80は、レーザー干渉計のメーカー5社比較⁠の方式「測長用（機械の校正）」の1製品の1つとして載っています。

  • 5社掲載社数
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レーザー干渉計システム XL-80​の強みと方式

工作機械や三次元測定機の位置決め・角度・真直度を測る、持ち運べる測長用の干渉計です。位置決め測定は80mまでで、精度は全環境範囲で±0.5ppm、分解能は1nmです。XC-80環境補正ユニットと組み合わせて精度を上げ、標準で3年保証が付きます。

向いている所工作機械の位置決め精度の校正

方式：測長用（機械の校正）

レーザー光の波長を物差しにして、機械が動いた長さを測る型です。工作機械や三次元測定機の位置決め・真直度・直角度を測り、誤差を補正するのに使います。持ち運んで機械のそばに据えます。

レーザー干渉計システム XL-80​の仕様

方式
測長用（機械の校正）
干渉方式
測長用レーザー干渉計
測定口径・範囲
位置決め測定80mまで
光源・波長
—公式資料で確認できず
精度・感度
位置決め測定精度±0.5ppm
測る物
工作機械・三次元測定機の位置決め、角度、真直度、直角度
価格
—公式資料で確認できず
寸法
—公式資料で確認できず
質量
ケース込み12kg
電源
—公式資料で確認できず
解析
50kHz・最大4m/s、分解能1nm
特長
XC-80環境補正ユニット、保証3年

回転軸はXR20回転軸割り出し角度測定装置と組み合わせて測ります。推奨校正期間は3年です。

同じ種類の他社製品との違い

製品の特徴ごとの分類

レーザー干渉計システム XL-80レニショー株式会社大口径表面形状測定器株式会社清原光学コンパクトレーザー干渉計 F601富士フイルム株式会社
方式測長用（機械の校正）フィゾー型（平面・球面）フィゾー型（平面・球面）
干渉方式測長用レーザー干渉計フィゾー型、位相シフトフィゾー型
測定口径・範囲位置決め測定80mまで直径300〜600mm直径60mm
光源・波長—公式資料で確認できず632.8nmレーザHe-Neレーザー、632.8nm
精度・感度位置決め測定精度±0.5ppm表面形状を0.1μm以上の精度で解析測定感度λ/2（0.3μm/縞）、基準面精度λ/20
測る物工作機械・三次元測定機の位置決め、角度、真直度、直角度大口径の表面形状平面板の平面度、透過波面
価格—公式資料で確認できず—公式資料で確認できず—公式資料で確認できず
寸法—公式資料で確認できず—公式資料で確認できず約300×320×590mm
質量ケース込み12kg—公式資料で確認できず約30kg
電源—公式資料で確認できず—公式資料で確認できずAC100V、1A
解析50kHz・最大4m/s、分解能1nm—公式資料で確認できず—公式資料で確認できず
特長XC-80環境補正ユニット、保証3年振動に強い、1〜6倍ズーム付きビームコンプレッサ併用で直径5〜25mm程度、超低反射測定用に改造可

レーザー干渉計の8製品を比較表で見る

レーザー干渉計システム XL-80​のよくある質問

Q.レーザー干渉計システム XL-80はどんな人に向いている？
レーザー干渉計システム XL-80は、工作機械の位置決め精度の校正に使う人向けです。レーザー干渉計システム XL-80は、工作機械や三次元測定機の位置決め・角度・真直度を測る、持ち運べる測長用の干渉計です。
Q.レーザー干渉計システム XL-80の強みは？
レーザー干渉計システム XL-80の位置決め測定は80mまでで、精度は全環境範囲で±0.5ppm、分解能は1nmです。XC-80環境補正ユニットと組み合わせて精度を上げ、標準で3年保証が付きます。
Q.レーザー干渉計システム XL-80はどんな方式？
レーザー干渉計システム XL-80の方式は測長用（機械の校正）⁠で⁠す⁠。レーザー光の波長を物差しにして、機械が動いた長さを測る型です。
Q.レーザー干渉計システム XL-80の主な仕様は？
レーザー干渉計システム XL-80の干渉方式は測長用レーザー干渉計、測定口径・範囲は位置決め測定80mまでです。精度・感度は位置決め測定精度±0.5ppm、測る物は工作機械・三次元測定機の位置決め、角度、真直度、直角度です。
Q.レーザー干渉計システム XL-80と大口径表面形状測定器はどっちがいい？
工作機械の位置決め精度の校正ならレーザー干渉計システム XL-80、直径300mm以上の大きな平面なら清原光学の大口径表面形状測定器です。レーザー干渉計システム XL-80の干渉方式は測長用レーザー干渉計、測定口径・範囲は位置決め測定80mまでです。清原光学の大口径表面形状測定器の干渉方式はフィゾー型、位相シフト、測定口径・範囲は直径300〜600mmです。
Q.レーザー干渉計システム XL-80の質量は？
レーザー干渉計システム XL-80の質量はケース込み12kgです。富士フイルムのコンパクトレーザー干渉計 F601の質量は約30kgです。
Q.レーザー干渉計システム XL-80の解析は？
レーザー干渉計システム XL-80の解析は50kHz・最大4m/s、分解能1nmです。清原光学の小型位相シフトレーザ干渉計の解析はIntelliWave KL2 Versionです。
Q.レーザー干渉計システム XL-80の特長は？
レーザー干渉計システム XL-80の特長はXC-80環境補正ユニット、保証3年です。清原光学の大口径表面形状測定器の特長は振動に強い、1〜6倍ズーム付きです。
Q.レーザー干渉計システム XL-80とコンパクトレーザー干渉計 F601はどっちがいい？
工作機械の位置決め精度の校正ならレーザー干渉計システム XL-80、直径60mmまでの平面板の検査なら富士フイルムのコンパクトレーザー干渉計 F601です。レーザー干渉計システム XL-80の干渉方式は測長用レーザー干渉計、測定口径・範囲は位置決め測定80mまでです。富士フイルムのコンパクトレーザー干渉計 F601の干渉方式はフィゾー型、測定口径・範囲は直径60mmです。
Q.レーザー干渉計システム XL-80はどこのメーカー？
レーザー干渉計システム XL-80はレニショー株式会社の製品です。登記上の本店は〒160-0004 東京都新宿区四谷4丁目29番地8レニショービル。レニショーの主な製品分野は三次元測定機・タッチプローブ・リニアスケール・レーザー干渉計です。

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    出典
    1. レニショー株式会社 公式
    2. gBizINFO（経済産業省） 法人情報
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