生産ラインや検査装置で、部品の高さ・厚み・段差を触らずに測りたい、生産技術・品質保証・設備・購買の担当の方へ

レーザー変位計のメーカー5社比較【2026年】

レーザー変位計は、レーザー光をワークに当て、
返ってきた光で高さ・厚み・段差を触らずに測る測定器です。

ABOUT

レーザー変位計とは

レーザー変位計とは、レーザー光をワークに当てて、返ってきた光から距離の変わり方を出し、高さ・厚み・段差を触らずに測るセンサで、レーザ変位センサとも呼びます。
1つの点を測る1次元の型と、
断面の形を測る2次元のプロファイル測定器があります。

製品の特長

触らずに測るので、柔らかいワークや動くワークも傷めない（測定子を当てない）
光の受け方で、三角測距方式と共焦点方式に分かれる（キーエンスの解説）
2次元の型は、帯状のレーザで断面の形を測る（高さ・段差・幅を一度に）

使うメリット

µm以下の差を測れる（CL-P030Gの分解能は0.015µm）
速いサンプリングで流れるワークを測る（CL-P030G⁠は100µsから）
ガラスや鏡面も共焦点方式なら測れる（IFD2410-⁠3）

選ぶときに注意すること

測れるのは基準距離の前後だけ。付ける距離を基準距離に合わせる
透明なワークや光るワークは、方式とヘッドが合うかをテストで確かめる
レーザーのクラス（クラス1・2・2M）に合わせて、付け方と表示を決める
センサヘッドだけの型は、アンプやコントローラを別に用意する

※仕様と価格は、各メーカーの公式の製品ページ・仕様表・データシートの記載。方式の説明はキーエンスの解説による。

LIST

レーザー変位計の比較表

コストは、値段を公開している製品どうしで比べています。値段を出していない製品は「要見積」。

CSV

レーザー変位計8製品の比較
製品・メーカー	コスト	製品の強み	仕様	公式ページ
三角測距方式 4製品
オプテックス・エフエー株式会社コンパクトレーザ変位センサ CD22-35V小型の本体で付ける高さ・厚み測定口コミを書く	要見積	アンプと表示を本体に入れた小型のレーザ変位センサです。測定中心35mmで±15mm、繰返精度は6µmです。制御出力はNPNとPNPを本体の設定で切り換えます。	方式三角測距方式基準距離 35mm 測定範囲 ±15mm 分解能・繰り返し精度 6µm（繰返精度）スポット径約0.45×0.8mm サンプリング周期 500〜4000µs、AUTO 光源赤色半導体レーザ、655nm 保護構造 IP67 出力 NPN・PNP（切り換え）記載なしプロファイルの点数	公式ページへ詳細・⁠⁠⁠仕様
オムロン株式会社スマートセンサ ZX2-LD5050mm先の小さなスポットでの高さ測定口コミを書く	要見積	直径60µmの小さなスポットで、50mmの位置を中心に高さを測るセンサヘッドです。測定範囲は40〜60mmで、分解能は0.0015mmです。アンプユニットと組み合わせて使います。	方式三角測距方式基準距離 50mm 測定範囲 40〜60mm 分解能・繰り返し精度 0.0015mm（分解能）スポット径 60µm 記載なしサンプリング周期・光源・プロファイルの点数・保護構造・⁠⁠⁠出力	公式ページへ詳細・⁠⁠⁠仕様
パナソニックインダストリー株式会社CMOSレーザ変位センサ HL-G105-A-⁠C5アンプを置かずに付ける高さ測定口コミを書く	119,600円税別	コントローラとデジタル表示部を本体に入れたレーザ変位センサで、アンプを別に置かずに付けられます。測定範囲は50±10mm、分解能は1.5µmで、標準価格は119,600円（税別）⁠で⁠す⁠。サンプリング周期は200µsから2msまで切り換えます。	方式三角測距方式基準距離 50mm 測定範囲 ±10mm 分解能・繰り返し精度 1.5µm（分解能）スポット径 0.5×1.0mm サンプリング周期 200µs・500µs・1ms・2ms 光源赤色半導体レーザ、655nm、クラス2 保護構造 IP67 出力アナログ（電圧・⁠⁠⁠電流）記載なしプロファイルの点数	公式ページへ詳細・⁠⁠⁠仕様
パナソニックインダストリー株式会社マイクロレーザ測距センサ HG-C1030値段を抑えた段差・高さの判定口コミを書く	36,400円税別	標準価格36,400円（税別）で⁠、値段を出している2製品のうち安いほうの型です。測定中心30mmで±5mm、繰り返し精度は10µmです。応答時間は1.5ms・5ms・10msから選べます。	方式三角測距方式基準距離 30mm 測定範囲 ±5mm 分解能・繰り返し精度 10µm（繰り返し精度）スポット径約直径50µm サンプリング周期 1.5ms・5ms・10ms（応答時間）光源赤色半導体レーザ、655nm、クラス2 保護構造 IP67 出力 NPN（PNPはHG-C1030-⁠P）記載なしプロファイルの点数	公式ページへ詳細・⁠⁠⁠仕様
共焦点方式 2製品
株式会社キーエンスマルチカラーレーザ同軸変位計 CL-P030G材質の違うワークの高さ・⁠⁠⁠厚み口コミを書く	要見積	光を同じ軸で出して受ける共焦点方式で、ワークの材質を選ばずに高さを測ります。基準距離30mmで測定範囲は±3.7mm、分解能は0.015µmです。スポット径は直径38µmで、ヘッドと光学ユニットを組み合わせて使います。	方式共焦点方式基準距離 30mm 測定範囲 ±3.7mm 分解能・繰り返し精度 0.015µm（分解能）スポット径直径38µm サンプリング周期 100〜1000µs（4段階）光源クラス1レーザ保護構造 IP67（ヘッド）記載なしプロファイルの点数・⁠⁠⁠出力	公式ページへ詳細・⁠⁠⁠仕様
Micro-Epsilon Japan株式会社共焦点式センサ IFD2410-⁠3ガラスや鏡面の距離と厚み測定口コミを書く	要見積	白色光を使う共焦点式で、鏡面・拡散面・ガラスのような透明な面を測ります。測定範囲は3mm、静的な分解能は18nm未満で、スポット径は18µmです。センサとコントローラをIP65の筐体1台にまとめています。	方式共焦点方式基準距離約25mm（測定範囲の始まり）測定範囲 3mm 分解能・繰り返し精度 18nm未満（静的）スポット径 18µm サンプリング周期 100Hz〜8kHz 光源白色LED 保護構造 IP65 出力 EtherCAT、PROFINET、EtherNet/IP、RS422 記載なしプロファイルの点数	公式ページへ詳細・⁠⁠⁠仕様カタログ（PDF）
2次元プロファイル 2製品
株式会社キーエンスインラインプロファイル測定器 LJ-X8020小さな部品の段差・幅を断面で測る口コミを書く	要見積	帯状の青色レーザを当てて、高さ・段差・幅を断面の形で一度に測ります。1本のプロファイルを3200点で取り、高さの繰り返し精度は0.3µmです。ヘッドは基準距離20mmで、高さの測定範囲は±2.2mmです。	方式 2次元プロファイル基準距離 20mm 測定範囲高さ±2.2mm 分解能・繰り返し精度 0.3µm（高さの繰り返し精度）スポット径約16mm×32µm（ライン）サンプリング周期最速16kHz（63µs）光源青色半導体レーザ、405nm プロファイルの点数 3200点保護構造 IP67 記載なし出力	公式ページへ詳細・⁠⁠⁠仕様
Micro-Epsilon Japan株式会社レーザプロファイルスキャナ LLT30x0-⁠50流れるワークの断面形状の測定口コミを書く	要見積	レーザのラインで断面の形を取るプロファイルスキャナで、1本を2,048⁠点で測ります。プロファイルを最大10,000Hzで取り、動いているワークの形を追えます。高さの測定範囲は40mmで、中央は125mmの位置です。	方式 2次元プロファイル基準距離 125mm（測定範囲の中央）測定範囲高さ40mm サンプリング周期最大10,000Hz（プロファイル周波数）光源赤色半導体レーザ、658nm、クラス2M プロファイルの点数 2,048点出力 Ethernet（GigE Vision）記載なし分解能・繰り返し精度・スポット径・保護構造	公式ページへ詳細・⁠⁠⁠仕様カタログ（PDF）

三角測距方式4製品

オプテックス・エフエー株式会社

コンパクトレーザ変位センサ CD22-35V

小型の本体で付ける高さ・厚み測定

アンプと表示を本体に入れた小型のレーザ変位センサです。測定中心35mmで±15mm、繰返精度は6µmです。制御出力はNPNとPNPを本体の設定で切り換えます。

コスト要見積

方式: 三角測距方式
基準距離: 35mm
測定範囲: ±15mm
分解能・繰り返し精度: 6µm（繰返精度）
スポット径: 約0.45×0.8mm
サンプリング周期: 500〜4000µs、AUTO
光源: 赤色半導体レーザ、655nm
保護構造: IP67
出力: NPN・PNP（切り換え）
記載なし: プロファイルの点数

50mm先の小さなスポットでの高さ測定

直径60µmの小さなスポットで、50mmの位置を中心に高さを測るセンサヘッドです。測定範囲は40〜60mmで、分解能は0.0015mmです。アンプユニットと組み合わせて使います。

コスト要見積

方式: 三角測距方式
基準距離: 50mm
測定範囲: 40〜60mm
分解能・繰り返し精度: 0.0015mm（分解能）
スポット径: 60µm
記載なし: サンプリング周期・光源・プロファイルの点数・保護構造・⁠⁠⁠出力

公式ページへ

詳細・⁠⁠⁠仕様口コミを書く

パナソニックインダストリー株式会社

CMOSレーザ変位センサ HL-G105-A-⁠C5

アンプを置かずに付ける高さ測定

コントローラとデジタル表示部を本体に入れたレーザ変位センサで、アンプを別に置かずに付けられます。測定範囲は50±10mm、分解能は1.5µmで、標準価格は119,600円（税別）⁠で⁠す⁠。サンプリング周期は200µsから2msまで切り換えます。

コスト119,600円税別

方式: 三角測距方式
基準距離: 50mm
測定範囲: ±10mm
分解能・繰り返し精度: 1.5µm（分解能）
スポット径: 0.5×1.0mm
サンプリング周期: 200µs・500µs・1ms・2ms
光源: 赤色半導体レーザ、655nm、クラス2
保護構造: IP67
出力: アナログ（電圧・⁠⁠⁠電流）
記載なし: プロファイルの点数

公式ページへ

詳細・⁠⁠⁠仕様口コミを書く

パナソニックインダストリー株式会社

マイクロレーザ測距センサ HG-C1030

値段を抑えた段差・高さの判定

標準価格36,400円（税別）で⁠、値段を出している2製品のうち安いほうの型です。測定中心30mmで±5mm、繰り返し精度は10µmです。応答時間は1.5ms・5ms・10msから選べます。

コスト36,400円税別

方式: 三角測距方式
基準距離: 30mm
測定範囲: ±5mm
分解能・繰り返し精度: 10µm（繰り返し精度）
スポット径: 約直径50µm
サンプリング周期: 1.5ms・5ms・10ms（応答時間）
光源: 赤色半導体レーザ、655nm、クラス2
保護構造: IP67
出力: NPN（PNPはHG-C1030-⁠P）
記載なし: プロファイルの点数

公式ページへ

詳細・⁠⁠⁠仕様口コミを書く

共焦点方式2製品

株式会社キーエンス

マルチカラーレーザ同軸変位計 CL-P030G

材質の違うワークの高さ・⁠⁠⁠厚み

光を同じ軸で出して受ける共焦点方式で、ワークの材質を選ばずに高さを測ります。基準距離30mmで測定範囲は±3.7mm、分解能は0.015µmです。スポット径は直径38µmで、ヘッドと光学ユニットを組み合わせて使います。

コスト要見積

方式: 共焦点方式
基準距離: 30mm
測定範囲: ±3.7mm
分解能・繰り返し精度: 0.015µm（分解能）
スポット径: 直径38µm
サンプリング周期: 100〜1000µs（4段階）
光源: クラス1レーザ
保護構造: IP67（ヘッド）
記載なし: プロファイルの点数・⁠⁠⁠出力

公式ページへ

詳細・⁠⁠⁠仕様口コミを書く

Micro-Epsilon Japan株式会社

共焦点式センサ IFD2410-⁠3

ガラスや鏡面の距離と厚み測定

白色光を使う共焦点式で、鏡面・拡散面・ガラスのような透明な面を測ります。測定範囲は3mm、静的な分解能は18nm未満で、スポット径は18µmです。センサとコントローラをIP65の筐体1台にまとめています。

コスト要見積

方式: 共焦点方式
基準距離: 約25mm（測定範囲の始まり）
測定範囲: 3mm
分解能・繰り返し精度: 18nm未満（静的）
スポット径: 18µm
サンプリング周期: 100Hz〜8kHz
光源: 白色LED
保護構造: IP65
出力: EtherCAT、PROFINET、EtherNet/IP、RS422
記載なし: プロファイルの点数

公式ページへ

詳細・⁠⁠⁠仕様カタログ（PDF）口コミを書く

2次元プロファイル2製品

株式会社キーエンス

インラインプロファイル測定器 LJ-X8020

小さな部品の段差・幅を断面で測る

帯状の青色レーザを当てて、高さ・段差・幅を断面の形で一度に測ります。1本のプロファイルを3200点で取り、高さの繰り返し精度は0.3µmです。ヘッドは基準距離20mmで、高さの測定範囲は±2.2mmです。

コスト要見積

方式: 2次元プロファイル
基準距離: 20mm
測定範囲: 高さ±2.2mm
分解能・繰り返し精度: 0.3µm（高さの繰り返し精度）
スポット径: 約16mm×32µm（ライン）
サンプリング周期: 最速16kHz（63µs）
光源: 青色半導体レーザ、405nm
プロファイルの点数: 3200点
保護構造: IP67
記載なし: 出力

公式ページへ

詳細・⁠⁠⁠仕様口コミを書く

Micro-Epsilon Japan株式会社

レーザプロファイルスキャナ LLT30x0-⁠50

流れるワークの断面形状の測定

レーザのラインで断面の形を取るプロファイルスキャナで、1本を2,048⁠点で測ります。プロファイルを最大10,000Hzで取り、動いているワークの形を追えます。高さの測定範囲は40mmで、中央は125mmの位置です。

コスト要見積

方式: 2次元プロファイル
基準距離: 125mm（測定範囲の中央）
測定範囲: 高さ40mm
サンプリング周期: 最大10,000Hz（プロファイル周波数）
光源: 赤色半導体レーザ、658nm、クラス2M
プロファイルの点数: 2,048点
出力: Ethernet（GigE Vision）
記載なし: 分解能・繰り返し精度・スポット径・保護構造

公式ページへ

詳細・⁠⁠⁠仕様カタログ（PDF）口コミを書く

出典：メーカー図鑑 https://makerzukan.jp/c/keisoku/laser-displacement-sensor/／各社の公式資料（2026年10月30日確認）。全項目は CSV（https://makerzukan.jp/data/laser-displacement-sensor.csv）

Q&A

レーザー変位計選びで、よくある疑問

購買担当の疑問レーザー変位計の価格は、いくら？

8製品のうち、値段を公開しているのはパナソニックインダストリーの2製品です。HG-C1030が36,400円（税別）、HL-G105-A-C5が119,600円（税別）で⁠、ほかは見積もりを取ります。

設備担当の疑問三角測距方式と共焦点方式の違いは？

三角測距方式は、返った光の道すじが描く三角形から距離を出します。共焦点方式は光を同じ軸で出して受けるので、キーエンスのCL-P030Gは材質を選ばず、Micro-Epsilon JapanのIFD2410-3は鏡面やガラスのような透明な面も測ります。

設備担当の疑問1次元の変位計と2次元のプロファイル測定器の違いは？

1次元の型は1つの点の高さを測り、2次元の型は帯状のレーザで断面の形を測ります。キーエンスのLJ-X8020は1本を3200点で取り、段差や幅も一度に出します。

工場長の疑問基準距離と測定範囲の見方は？

基準距離はセンサから測定の中心までの距離で、測定範囲はその前後で測れる幅です。オムロンのZX2-LD50は基準距離50mmで、40〜60mmの間を測ります。

設備担当の疑問分解能と繰り返し精度は、どれくらい？

共焦点方式は、キーエンスのCL-P030Gが分解能0.015µm、Micro-Epsilon JapanのIFD2410-3が18nm未満（静的）⁠で⁠す⁠。三角測距方式は、オプテックス・エフエーのCD22-35Vが繰返精度6µm、パナソニックインダストリーのHG-C1030が繰り返し精度10µmです。

設備担当の疑問スポット径は、どう選ぶ？

小さな部品や細い溝なら、スポットの小さい型を選びます。IFD2410-3は18µm、CL-P030Gは直径38µm、ZX2-LD50は60µmです。HL-G105-A-C5は0.5×1.0mmと広めです。

工場長の疑問速く流れるワークも測れる？

サンプリング周期の速い型を選びます。キーエンスのCL-P030Gは100µsから、LJ-X8020はコントローラにつないで最速16kHz、Micro-Epsilon JapanのLLT30x0-50は最大10,000Hzでプロファイルを取ります。

工場長の疑問ガラスや鏡面など、透明なワーク・光るワークは測れる？

共焦点方式なら測れる型があります。Micro-Epsilon JapanのIFD2410-3は鏡面・拡散面・ガラスのような透明な面を測り、キーエンスのCL-P030Gは材質を選ばずに測ります。

施設管理の疑問水や油のかかる所で使える？

保護構造を確かめます。CL-P030G（ヘッド）・LJ-X8020・HL-G105-A-C5・HG-C1030・CD22-35VはIP67、IFD2410-3はIP65です。

施設管理の疑問レーザーの安全クラスは？

HL-G105-A-C5とHG-C1030はクラス2、LLT30x0-50はクラス2M、CL-P030Gはクラス1です。クラスに合わせて、目に入らないように付け方と表示を決めます。

設備担当の疑問アナログ・NPN・通信の出力は、どう選ぶ？

つなぐ機器に合わせます。HL-G105-A-C5はアナログの電圧・電流、CD22-35VはNPNとPNPを切り換え、HG-C1030はNPN（PNPはHG-C1030-P）で⁠す⁠。IFD2410-3はEtherCAT・PROFINET・EtherNet/IP・RS422でつなぎます。

購買担当の疑問キーエンス・オムロン・パナソニックのレーザー変位計は？

キーエンスは共焦点方式のCL-P030Gと、プロファイル測定器LJ-X8020を載せています。オムロンはスマートセンサZX2-LD50、パナソニックインダストリーはHL-G105-A-C5とHG-C1030を載せています。

TYPES

レーザー変位計の方式の違い

ボタンを押すと、表がその方式の製品だけになります。

三角測距方式

ワークで返ったレーザーを斜めの位置で受け、光の道すじが描く三角形から距離を出します。パナソニックインダストリーのHL-G105-A-C5やオプテックス・エフエーのCD22-35Vのように、アンプと表示を本体に入れた小型の型がそろいます。透明な面や光沢の強い面は、方式が合うかを先にテストで確かめます。

向いている使い方

部品の高さや段差のOK・NG判定
ノズルやロボットの高さ合わせ
シャフトの振れや面ブレの測定

根拠：キーエンスの解説では、投光した反射光を受光する光路が三角形を描く方式を三角測距方式と呼ぶ（出典1）

この方式の4製品を表で見る

共焦点方式

光を出すのと受けるのを同じ軸で行い、ワークの材質を選ばずに距離を出します。キーエンスのCL-P030Gは分解能0.015µm、Micro-Epsilon JapanのIFD2410-3は静的な分解能18nm未満です。ガラスのような透明な面や鏡面も測れ、厚さも測ります。

向いている使い方

ガラスやフィルムの厚さの測定
鏡面の部品やウェーハの高さ測定
狭い穴や溝の底の測定

根拠：キーエンスの解説では、レーザー光を同軸で投光と受光する方式を共焦点方式と呼ぶ（出典1）

この方式の2製品を表で見る

2次元プロファイル

帯状のレーザ光をワークに当て、返った光をCMOSで受けて、高さ・段差・幅を断面の形で測ります。キーエンスのLJ-X8020は1本を3200点、Micro-Epsilon JapanのLLT30x0-50は2,048⁠点で取ります。点で測る1次元の型より、溝や段差の幅を一度に見られます。

向いている使い方

溶接ビードや接着剤の盛りの形
部品の段差・隙間・幅の検査
流れるワークの3D形状の検査

根拠：キーエンスの解説では、帯状のレーザ光を照射し反射光の変化をCMOSで受光して断面形状を測る（出典2）

この方式の2製品を表で見る

MAKERS

レーザー変位計の主なメーカー5社

レーザー変位計の主なメーカーは、次の5社です。社名を押すと、その会社のページ（ほかの製品と所在地）に移ります。

オプテックス・エフエー株式会社

アンプと表示を本体に入れた小型のレーザ変位センサです。

京都府

コンパクトレーザ変位センサ CD22-35V

オムロン株式会社

直径60µmの小さなスポットで、50mmの位置を中心に高さを測るセンサヘッドです。

京都府

スマートセンサ ZX2-LD50

株式会社キーエンス

光を同じ軸で出して受ける共焦点方式で、ワークの材質を選ばずに高さを測ります。

大阪府

パナソニックインダストリー株式会社

コントローラとデジタル表示部を本体に入れたレーザ変位センサで、アンプを別に置かずに付けられます。

大阪府

Micro-Epsilon Japan株式会社

白色光を使う共焦点式で、鏡面・拡散面・ガラスのような透明な面を測ります。

大阪府

出典（2026年10月30日確認）

この比較表のデータ：CSV・JSON（出典を明記すれば引用できます）

掲載基準と並び順

掲載基準：生産ラインや検査装置で、部品の高さ・厚み・段差・振れを触らずに測る業務用のレーザー変位計（レーザ変位センサ）で⁠、三角測距方式と共焦点方式の1次元の型と、帯状のレーザで断面を測る2次元のプロファイル測定器を載せています。メーカーが自社で作るか自社グループの型番で売り、公式サイトで今案内していて、仕様を公式の資料で確かめられた型を、1社2製品まで載せています。手に持って距離を測るレーザー距離計と、物の有無を見る光電センサは別の比較です。渦電流式などレーザーを使わない変位センサ、数m先を測る距離センサ、受注を終えた型（パナソニックインダストリーのHL-D3など⁠）⁠、代理店や商社が売る他社製品は除いています。オムロンは日本語の製品ページから文字を取れなかったため欧州の公式ページの仕様で、Micro-Epsilon JapanのLLT30x0-50は英語のデータシートで確かめました。ジック・バナー・エンジニアリング・ジャパン・コグネックスは、公式ページの仕様を文字で取れなかったため載せていません。並びは方式ごとに会社の五十音順です。

並び順：方式ごとに分け、その中はメーカー名の五十音順です。

レーザー変位計を作っているメーカーの方へ：掲載・訂正のご依頼（掲載は無料です）

レーザー変位計のメーカー5社比較【2026年】

レーザー変位計とは

製品の特長

使うメリット

選ぶときに注意すること