レーザプロファイルスキャナ LLT30x0-⁠50Micro-Epsilon Japan株式会社

仕様

向いている所：流れるワークの断面形状の測定

方式

2次元プロファイル

基準距離

125mm（測定範囲の中央）

測定範囲

高さ40mm

分解能・繰り返し精度

—公式資料で確認できず

スポット径

—公式資料で確認できず

サンプリング周期

最大10,000Hz（プロファイル周波数）

光源

赤色半導体レーザ、658nm、クラス2M

価格

—公式資料で確認できず

プロファイルの点数

2,048点

保護構造

—公式資料で確認できず

出力

Ethernet（GigE Vision）

— は公式の資料で確かめられなかった項目です。

scanCONTROL 30xxシリーズ。仕様は英語のデータシートによる。

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