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分光エリプソメーター(研究開発・膜の解析)のメーカー3社比較【2026年】

分光エリプソメーターは、
波長を変えて偏光の変化を取り、
膜の厚さと光学定数を解析する装置です。

ABOUT

分光エリプソメーターとは

分光エリプソメーターとは、波長を変えて偏光の変化を取り、膜の厚さと光学定数(n、k)を解析するエリプソメーターです。
検光子や補償子を回す型と、位相を電気で変える型があります。

分光エリプソメーターは、方式・波長範囲・入射角・スポット・測定膜厚の違いで比べて選びます。

特に、レジストのn、kを評価する回転検光子法は大塚電子、全波長を同時に取る回転補償子式はジェー・エー・ウーラム・ジャパン、紫外から近赤外まで測る位相変調の機種と可視の生産管理向けの機種は堀場製作所です。

※仕様は各メーカーの公式の製品ページによる。UNECS-3000Aは2011年の公式発表、M-2000は米国本社の英語ページによる。

LIST

分光エリプソメーターの比較表

分光エリプソメーターの価格・相場公開価格なし

相場価格
各社 要見積公開価格がありません
分光エリプソメーター(研究開発・膜の解析)4製品の比較
製品・メーカー製品の特徴製品の強み使用用途・場所価格
大塚電子株式会社分光エリプソメーター FE-5000製品の詳細を見るメーカー公式サイトotsukael.jp

検光子を回して測る回転検光子法で、300nm〜800nmを400ch以上の多チャンネル分光で取る分光エリプソメーターです。

検光子を回して測る方式で、400ch以上の多チャンネル分光で波長ごとの値をまとめて取ります。g線・h線・i線の各波長でn、kを見られるので、レジストの評価に使えます。入射角は45°〜90°で変えられます。

レジストのn・kを波長ごとに評価する開発

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ジェー・エー・ウーラム・ジャパン株式会社分光エリプソメーター M-2000製品の詳細を見るメーカー公式サイトjawoollam.com

回転補償子とCCDを組み合わせ、全波長を同時に取る分光エリプソメーターです。

回転補償子とCCDを組み合わせ、全波長を同時に取る方式です。全スペクトルを最短0.05秒で取れるので、成膜中の変化を追う測定に使えます。日本語の公式サイトは休止中で、日本での販売中かは未確認です。

成膜中の変化を追う研究

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株式会社堀場製作所分光エリプソメーター UVISEL Plus製品の詳細を見るメーカー公式サイトhoriba.com

50kHzの位相変調で、紫外の190nmから近赤外の2100nmまで測る分光エリプソメーターです。

機械で素子を回さず、50kHzの位相変調で偏光の変化を取る方式です。紫外の190nmから近赤外の2100nmまで同じ機械で測れます。約60ms/点と速いので、膜の変化を追う測定にも向きます。

紫外から近赤外まで測る研究開発

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株式会社堀場製作所可視分光エリプソメーター Smart SE製品の詳細を見るメーカー公式サイトhoriba.com

液晶変調で450nm〜1000nmを測る、ボタン操作の可視分光エリプソメーターです。

液晶で変調する可視域の機種で、ボタン操作で1nm〜15μmの膜を測れます。カメラで表面と測定位置を見ながら合わせられます。入射角は標準で70°固定なので、決まった膜の管理に向きます。

決まった膜を手早く測る生産管理

要見積
FEATURES

分光エリプソメーターの使用用途・特徴・メリット

使用用途

  • どこに使うか

    レジストや光学薄膜のn、kの評価、多層膜の解析、成膜中の変化の追跡。

  • 何のために使うか

    波長や入射角を変えて測り、膜の厚さと光学定数を細かく解析するためです。

特徴

  • どんなものか

    波長を変えて偏光の変化を取り、モデルに当てはめて厚さとn、kを出す機種です。

  • 強み

    紫外の190nmから近赤外の2100nmまで測れる機種があり、入射角を45°〜90°で変えられます。

メリット

  • 使うメリット

    膜の厚さと光学定数を同時に出し、多層膜も1層ずつ解析できます。

  • 面測定式に比べたメリット

    波長と入射角を変えて測れるので、新しい膜の光学定数を細かく解析できます。

エリプソメーターを使う根本の理由は、薄い膜の厚さと光学定数を、試料に触れずに偏光の変化から求められることです。使うメリットをくわしく

選ぶときに注意すること

  1. 結果は解析のモデルで変わる

    材料のn、kが分からないと、厚さとの切り分けが難しくなります。

    よくある失敗モデルを確かめずに、出た厚さをそのまま記録する。

  2. 粗い膜は粗さの層を入れる

    表面が粗い膜は、粗さの層をモデルに入れて解析します。

    よくある失敗粗い膜を、平らな膜のモデルで解析する。

  3. 波長の範囲は機種で違う

    波長の範囲は機種で違います。紫外で測るレジストなら、紫外まである型を選びます。

    よくある失敗可視だけの機種で、紫外の光学定数を求める。

  4. 床の強さと搬入口を先に見る

    大きな機種は約200kgあります。床の強さと搬入口の幅を先に見ます。

    よくある失敗搬入の日に、入口の幅が足りないと分かる。

Q&A

分光エリプソメーター選びで、よくある疑問

購買担当の疑問分光エリプソメーターはいくら?

このページの4機種は、どれも今の価格を公式に出していないので、見積もりを取る必要があります。測りたい膜の材料と構成、試料の大きさ、欲しい波長範囲を伝えると、構成を決めた見積もりが返ってきます。解析のソフトや角度の台など、オプションの範囲も合わせて聞いてください。

設備担当の疑問4機種はどう違う?

大塚電子のFE-5000は回転検光子法で300nm〜800nmを測り、レジストのn、kの評価に使えます。M-2000は回転補償子とCCDで全波長を同時に取ります。堀場製作所のUVISEL Plusは位相変調で190nm〜2100nm、Smart SEは液晶変調で450nm〜1000nmをボタン操作で測ります。研究か生産管理かで選んでください。

設備担当の疑問回転素子式と変調式の違いは?

偏光の変化の取り方が違います。回転素子式は検光子や補償子を回しながら測り、変調式は素子を機械で回さず、光の位相を電気で変えて測ります。UVISEL Plusは50kHzの位相変調です。どちらも膜の厚さとn、kを出せるので、波長範囲と速さで比べてください。

設備担当の疑問波長範囲はどう選ぶ?

測る膜が光を通す波長と、n、kを見たい波長に合わせます。紫外から近赤外まで見るならUVISEL Plusの190nm〜2100nm、M-2000は構成により193nm〜1690nmです。可視で足りるならSmart SEの450nm〜1000nm、FE-5000は300nm〜800nmです。

設備担当の疑問どれくらい薄い膜まで測れる?

公式に書いている範囲では、FE-5000は0.1nm〜1μm、Smart SEは1nm〜15μmです。UVISELシリーズは30μmまでの厚膜層も測れるとしています。材料と膜の構成で変わるので、実際の試料で確かめてください。

設備担当の疑問入射角は変えられる?

FE-5000とM-2000は45°〜90°、UVISEL Plusは45°〜90°を電動で変えられます。Smart SEは標準で70°固定で、45°〜90°の範囲から5°刻みで変えられます。多層膜を細かく解析するなら、入射角を変えて測れる機種を選んでください。

設備担当の疑問成膜の途中で測れる?

M-2000は全スペクトルを最短0.05秒で取れ、成膜中の変化を追う測定に使えます。UVISEL Plusも1点約60msと速く、膜の変化を追えます。成膜装置への取り付けの形を、メーカーに相談してください。

施設管理の疑問生産の現場で決まった膜を測るなら?

堀場製作所のSmart SEは、ボタン操作で1nm〜15μmの膜を測れ、カメラで表面と測定位置を見ながら合わせられます。入射角は標準で70°固定なので、決まった膜の管理に向きます。測る膜の種類が決まっているなら、この機種から見てください。

施設管理の疑問置き場所と電源は?

UVISEL Plusは850×470×700mm、約85kgでAC100Vを使います。Smart SEの本体は840×230×340mmです。M-2000はAC100〜240Vです。床の強さと搬入口の幅、除振の要否を先に確かめてください。

総務の疑問M-2000は日本で買える?

日本語の公式サイトが休止中で、日本で販売中かは確かめられていません。仕様は米国本社の英語ページの値です。検討するなら、ジェー・エー・ウーラムに販売とサポートの窓口を先に問い合わせてください。

MAKERS

分光エリプソメーターの主なメーカー3社

大塚電子株式会社

特徴
1970年設立。 大阪府枚方市に本社を置き、科学機器・光学機器・医療機器・工業計測機器の開発・製造・販売をしています。
強み
  • 最速5ミリ秒で分光測定
  • JCSSの光校正事業者

大阪府

ジェー・エー・ウーラム・ジャパン株式会社

特徴
J.A. Woollamの世界の拠点一覧に載る日本の会社で、東京都杉並区にあります。

東京都

株式会社堀場製作所

特徴
1953年設立。 京都市南区に本社を置き、分析・計測・制御機器の開発・製造・販売をしています。
強み
  • 連結売上高3,330億円
  • ISO/IEC 17025の認定校正

京都府

出典
  1. 大塚電子 分光エリプソメータ FE-5000 series
  2. J.A. Woollam M-2000
  3. 堀場製作所 UVISEL Plus
  4. 堀場製作所 Smart SE
  5. フォトニックラティス ME-210
  6. パーク・システムズ Accurion EP4
  7. 日本セミラボ µSE-3000
  8. アルバック UNECS-3000A ⁠発表
  9. リソテックジャパン 分光エリプソメータ
掲載基準

エリプソメーターのうち、1点ずつ波長を変えて偏光の変化を取り、膜の厚さと光学定数を解析する機種(回転素子式・変調式)⁠で⁠す⁠。メーカーが自社またはグループで作り、自社の型番で売り、日本の会社か日本法人のある製品を載せました。ウェーハ全面を自動で測る面測定式は、エリプソメーターの比較のページに載せています。

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