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ウェーハ
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ウェーハ外観検査装置 Vi-4207の強みと方式
配線パターン、
向いている所
方式:外観・表面検査
パターン
ウェーハ外観検査装置 Vi-4207の仕様
- 方式
- 外観・
表面検査 - 検査方式
- —公式資料で
確認できず - 検査の対象
- CMOS
イメージ センサー、 パワーデバイス、 RFフィルター、 MEMS、 ガラス、 TAIKOウェーハ - ウェーハ径
- 2〜8inch
- 検出感度・分解能
- —公式資料で
確認できず - 検査速度
- —公式資料で
確認できず - 見つける欠陥
- 配線パターン、
クラック、 異物混入 - 価格
- —公式資料で
確認できず - 光源・ビーム
- —公式資料で
確認できず - 外形寸法
- W1880×
D1140× H2060mm - 質量
- 1650kg
同じ種類の他社製品との違い
製品の特徴ごとの分類
| ウェーハ | シリコンウェーハ | ウエハ外観検査装置 AURCA-S | |
|---|---|---|---|
| 方式 | 外観・ | 外観・ | 外観・ |
| 検査方式 | —公式資料で | 光学式、 | フルカラー |
| 検査の対象 | CMOS | シリコンウェーハ、 | ロジック |
| ウェーハ径 | 2〜8inch | —公式資料で | —公式資料で |
| 検出感度・分解能 | —公式資料で | —公式資料で | —公式資料で |
| 検査速度 | —公式資料で | —公式資料で | —公式資料で |
| 見つける欠陥 | 配線パターン、 | キズ、欠け、 | プローブマーク、 |
| 価格 | —公式資料で | —公式資料で | —公式資料で |
| 光源・ビーム | —公式資料で | —公式資料で | —公式資料で |
| 外形寸法 | W1880× | —公式資料で | —公式資料で |
| 質量 | 1650kg | —公式資料で | —公式資料で |
ウェーハ外観検査装置 Vi-4207のよくある質問
Q.ウェーハ外観検査装置 Vi-4207はどんな人に向いている?
ウェーハ外観検査装置 Vi-4207は、パワーデバイスやMEMSの外観検査に使う人向けです。ウェーハ外観検査装置 Vi-4207は、配線パターン、クラック、異物をまとめて見る外観検査装置で、ダイシング後の内部クラックも検査できます。
Q.ウェーハ外観検査装置 Vi-4207の強みは?
ウェーハ外観検査装置 Vi-4207は、ウェーハとテープフレームの両方を扱えます。ウェーハは2〜8inchです。
Q.ウェーハ外観検査装置 Vi-4207はどんな方式?
ウェーハ外観検査装置 Vi-4207の方式は外観・表面検査です。パターン付きウェーハやベアウェーハの外観と表面の欠陥を見つける型です。
Q.ウェーハ外観検査装置 Vi-4207の主な仕様は?
ウェーハ外観検査装置 Vi-4207の検査の対象はCMOSイメージセンサー、パワーデバイス、RFフィルター、MEMS、ガラス、TAIKOウェーハ、ウェーハ径は2〜8inchです。見つける欠陥は配線パターン、クラック、異物混入、外形寸法はW1880×D1140×H2060mmです。
Q.ウェーハ外観検査装置 Vi-4207とシリコンウェーハ検査装置 MS-1000はどっちがいい?
パワーデバイスやMEMSの外観検査ならウェーハ外観検査装置 Vi-4207、基板の外部欠陥と内部欠陥の検査ならナノシステムソリューションズのシリコンウェーハ検査装置 MS-1000です。ウェーハ外観検査装置 Vi-4207の検査の対象はCMOSイメージセンサー、パワーデバイス、RFフィルター、MEMS、ガラス、TAIKOウェーハ、ウェーハ径は2〜8inchです。ナノシステムソリューションズのシリコンウェーハ検査装置 MS-1000の検査方式は光学式、画像処理、検査の対象はシリコンウェーハ、ガラス基板です。
Q.ウェーハ外観検査装置 Vi-4207の質量は?
ウェーハ外観検査装置 Vi-4207の質量は1650kgです。クボタのウェハ表面欠陥検査装置 K-LE-G200の質量は約1,200kgです。
Q.ウェーハ外観検査装置 Vi-4207とウエハ外観検査装置 AURCA-Sシリーズはどっちがいい?
パワーデバイスやMEMSの外観検査ならウェーハ外観検査装置 Vi-4207、AIで見逃しと過検出を抑える検査ならニデックアドバンステクノロジーのウエハ外観検査装置 AURCA-Sシリーズです。ウェーハ外観検査装置 Vi-4207の検査の対象はCMOSイメージセンサー、パワーデバイス、RFフィルター、MEMS、ガラス、TAIKOウェーハ、ウェーハ径は2〜8inchです。ニデックアドバンステクノロジーのウエハ外観検査装置 AURCA-Sシリーズの検査方式はフルカラー高速スキャン、AI解析、検査の対象はロジックIC、メモリー、LED、CIS、MEMSです。
Q.ウェーハ外観検査装置 Vi-4207のほかにタカノのウエハ検査装置はある?
あります。タカノのウエハ検査装置には、ウェーハ外観検査装置 Vi-4207のほかにウェーハ表面検査装置 WM-10R+(検査の対象はベアウェーハ)があります。
Q.ウェーハ外観検査装置 Vi-4207はどこのメーカー?
ウェーハ外観検査装置 Vi-4207はタカノ株式会社の製品です。登記上の本店は〒399-4301 長野県上伊那郡宮田村137番地。タカノの主な製品分野はオーニング・ソレノイドアクチュエータ・ウエハ検査装置です。
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