機械走査式7製品 |
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インサイト株式会社超音波Cスキャン画像診断装置 IS-202小型試料の卓上検査口コミを書く | 要見積 | 卓上に置く水浸式の装置で、反射法と透過法を使えます。有効スキャンエリアは200×150mm、機械操作精度は0.1μmです。 | - 走査方式
- 機械走査式
- 周波数・帯域
- 装置対応受信1〜500MHz
- 走査範囲・移動量
- 有効スキャンエリア200×150mm
- 対応試料
- 電子部品、半導体パッケージ、接合構造、金属材料
- 機械操作精度
- 機械操作精度0.1μm
- 記載なし
- 走査速度・欠陥分解能・走査・測定ピッチ・探触子スポット径・画像・解析
| 公式ページへ詳細・仕様 |
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インサイト株式会社超音波Cスキャン画像診断装置 IS-350接合界面と材料の解析口コミを書く | 要見積 | 反射法・透過法に加え、非線形超音波法に対応します。基本の走査範囲は350×350mmで、全波形データからの画像再描画や剥離面積率の解析ソフトを標準装備しています。 | - 走査方式
- 機械走査式
- 周波数・帯域
- 装置対応250kHz〜500MHz
- 走査範囲・移動量
- 有効スキャンエリア350×350mm
- 対応試料
- 電子部品、半導体パッケージ、接合構造、金属材料
- 機械操作精度
- 機械操作精度0.5μm
- 画像・解析
- 全波形収集、画像再描画、剥離面積率解析
- 記載なし
- 走査速度・欠陥分解能・走査・測定ピッチ・探触子スポット径
| 公式ページへ詳細・仕様 |
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| 株式会社SRT超音波映像装置 VSA M350IC・MLCC・ウェーハの検査口コミを書く | 要見積 | IC・JEDECトレイ・MLCC・300mmウェーハを検査できます。走査範囲は350×320×80mmで、欠陥面積計測とFFT映像処理を備えます。 | - 走査方式
- 機械走査式
- 周波数・帯域
- オプションプローブ5〜150MHz
- 走査範囲・移動量
- スキャン範囲350×320×80mm
- 走査速度
- 1,200mm/s
- 対応試料
- IC、JEDECトレイ、MLCC、300mmウェーハ
- 走査・測定ピッチ
- 測定ピッチ0.001mm
- 画像・解析
- 全波形スキャン、欠陥面積計測、FFT映像処理
- 記載なし
- 欠陥分解能・機械操作精度・探触子スポット径
| 公式ページへ詳細・仕様カタログ(PDF) |
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株式会社KJTD卓上型超音波探傷映像化装置 D-view電子部品・積層基板の検査口コミを書く | 要見積 | 水浸槽の上を走査する卓上型で、パルス反射法で内部を検査します。平面画像と断面画像を表示し、試料内のきずを評価できます。 | - 走査方式
- 機械走査式
- 周波数・帯域
- レシーバ帯域1.0〜150MHz、-3dB
- 走査範囲・移動量
- X300mm、Y300mm、Z100mmは手動
- 走査速度
- 最大300mm/s
- 対応試料
- セラミック積層基板、IC
- 走査・測定ピッチ
- X・Yは0.01〜9.99mm
- 画像・解析
- 平面像、断面像、面積率
- 記載なし
- 欠陥分解能・機械操作精度・探触子スポット径
| 公式ページへ詳細・仕様 |
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株式会社KJTD超音波探傷映像化装置 ADS71000曲面・複雑形状の材料検査口コミを書く | 要見積 | 7軸を同時に制御し、曲面を含む複雑形状の試料を走査します。CADデータから走査パターンを作成し、電子部品・ターゲット材・新素材の検査に使えます。 | - 走査方式
- 機械走査式
- 周波数・帯域
- レシーバ帯域0.25〜25・1〜25・0.25〜5・1〜5MHz
- 走査範囲・移動量
- X1,000mm、Y1,000mm、Z350mm
- 走査速度
- X・Yは0〜300mm/s、Zは0〜50mm/s
- 対応試料
- 電子部品、ターゲット材、新素材
- 走査・測定ピッチ
- X・Y・Zは最小0.005mm
- 画像・解析
- C・B・Dスコープ、3D表示、7軸同時制御
- 記載なし
- 欠陥分解能・機械操作精度・探触子スポット径
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| 株式会社日立パワーソリューションズ超音波映像装置 FineSAT 7大径ウェーハの反射・透過検査口コミを書く | 要見積 | 直径300mmウェーハを反射法と透過法で一括測定できます。常時波形収録に対応し、最高走査速度は公称1,200mm/sです。 | - 走査方式
- 機械走査式
- 周波数・帯域
- プローブ5〜400MHz
- 走査範囲・移動量
- 有効ストローク350×350×80mm
- 走査速度
- 最大1,200mm/s、公称値
- 対応試料
- 直径300mmウェーハ、半導体デバイス、電子部品
- 画像・解析
- 常時波形収録、リアルタイムBスコープ
- 記載なし
- 欠陥分解能・走査・測定ピッチ・機械操作精度・探触子スポット径
| 公式ページへ詳細・仕様 |
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本多電子株式会社超音波探傷映像装置 HA-60A半導体・ろう付け部の欠陥検査口コミを書く | 要見積 | A・B・Cスコープを同時表示し、波形・断面・平面を見比べられます。10〜140MHzの探触子を選べ、標準探触子は50MHzです。 | - 走査方式
- 機械走査式
- 周波数・帯域
- 探触子10〜140MHz、標準50MHz
- 走査範囲・移動量
- ステージ移動量135×135×80mm
- 走査速度
- 最大500mm/s
- 対応試料
- 半導体、セラミック、樹脂、金属、溶接・ろう付け部
- 走査・測定ピッチ
- X・Yは8μm、Zは1μm
- 探触子スポット径
- 標準50MHzは100μm、140MHzは10μm
- 画像・解析
- A・B・Cスコープ同時表示、8画面同時取込
- 記載なし
- 欠陥分解能・機械操作精度
| 公式ページへ詳細・仕様 |
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