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熱伝導率測定器パルス光加熱（フラッシュ法など）

薄膜熱物性測定装置 NanoTR

NETZSCH Japan株式会社

パルス光加熱サーモリフレクタンス法で薄膜の熱拡散率・熱伝導率を測る装置。

価格
公開価格なし（見積もり）
方式
パルス光加熱（フラッシュ法など）
向いている所
基板の上の薄膜を測る
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比較表での位置

薄膜熱物性測定装置 NanoTRは、熱伝導率測定器のメーカー8社比較⁠の方式がパルス光加熱（フラッシュ法など）の4製品の1つとして載っています。

  • 8社掲載社数
  • 13製品比較表の製品
  • 4製品同じ方式
  • 0製品公開価格あり
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薄膜熱物性測定装置 NanoTR​の強みと方式

基板に付いたままの薄膜を、ナノ秒のパルス光で加熱して測ります。裏面加熱と表面加熱の2つの方式で、さまざまな基板に使えます。産業技術総合研究所の標準薄膜で検証された、SIトレーサブルな装置です。

向いている所基板の上の薄膜を測る

方式：パルス光加熱（フラッシュ法など）

光のパルスで試料を瞬間的に加熱し、温度の変化から熱拡散率を求める型です。熱伝導率は比熱と密度を使って換算します。金属やセラミックスの高温測定や、薄膜の測定に使います。

薄膜熱物性測定装置 NanoTR​の仕様

方式
パルス光加熱（フラッシュ法など）
測定方式
パルス光加熱サーモリフレクタンス法
測定範囲
—公式資料で確認できず
温度
RT〜500℃
試料
膜厚：樹脂30nm〜2μm、セラミックス300nm〜5μm、金属1〜20μm
精度
—公式資料で確認できず
規格
JIS R 1689、JIS R 1690
価格
—公式資料で確認できず
外形寸法
—公式資料で確認できず
質量
—公式資料で確認できず
電源
—公式資料で確認できず
特長
—公式資料で確認できず

同じ種類の他社製品との違い

製品の特徴ごとの分類

薄膜熱物性測定装置 NanoTRNETZSCH Japan株式会社レーザフラッシュ法熱定数測定装置 TC-1200RHアドバンス理工株式会社フラッシュ法熱拡散率測定装置 Discovery Flashティー・エイ・インスツルメント・ジャパン株式会社
方式パルス光加熱（フラッシュ法など）パルス光加熱（フラッシュ法など）パルス光加熱（フラッシュ法など）
測定方式パルス光加熱サーモリフレクタンス法レーザフラッシュ法キセノンフラッシュ、レーザーフラッシュ
測定範囲—公式資料で確認できず—公式資料で確認できず—公式資料で確認できず
温度RT〜500℃RT〜1150℃-175〜2,800℃（シリーズ全体）
試料膜厚：樹脂30nm〜2μm、セラミックス300nm〜5μm、金属1〜20μm直径10mm×厚さ1〜3mm液体、ペースト、粉末、薄膜、厚みのある試料
精度—公式資料で確認できず—公式資料で確認できず—公式資料で確認できず
規格JIS R 1689、JIS R 1690JIS R 1611、JIS R 1650-⁠3—公式資料で確認できず
価格—公式資料で確認できず—公式資料で確認できず—公式資料で確認できず
外形寸法—公式資料で確認できず—公式資料で確認できず—公式資料で確認できず
質量—公式資料で確認できず—公式資料で確認できず—公式資料で確認できず
電源—公式資料で確認できず—公式資料で確認できず—公式資料で確認できず
特長—公式資料で確認できず従来の抵抗炉に比べ1/4の測定時間—公式資料で確認できず

熱伝導率測定器の13製品を比較表で見る

薄膜熱物性測定装置 NanoTR​のよくある質問

Q.薄膜熱物性測定装置 NanoTRはどんな人に向いている？
薄膜熱物性測定装置 NanoTRは、基板の上の薄膜を測る人向けです。薄膜熱物性測定装置 NanoTRは、基板に付いたままの薄膜を、ナノ秒のパルス光で加熱して測ります。
Q.薄膜熱物性測定装置 NanoTRの強みは？
薄膜熱物性測定装置 NanoTRは、裏面加熱と表面加熱の2つの方式で、さまざまな基板に使えます。産業技術総合研究所の標準薄膜で検証された、SIトレーサブルな装置です。
Q.薄膜熱物性測定装置 NanoTRはどんな方式？
薄膜熱物性測定装置 NanoTRの方式はパルス光加熱（フラッシュ法など）⁠で⁠す⁠。光のパルスで試料を瞬間的に加熱し、温度の変化から熱拡散率を求める型です。
Q.薄膜熱物性測定装置 NanoTRの主な仕様は？
薄膜熱物性測定装置 NanoTRの測定方式はパルス光加熱サーモリフレクタンス法、温度はRT〜500℃です。試料は膜厚：樹脂30nm〜2μm、セラミックス300nm〜5μm、金属1〜20μm、規格はJIS R 1689、JIS R 1690です。
Q.薄膜熱物性測定装置 NanoTRとレーザフラッシュ法熱定数測定装置 TC-1200RHはどっちがいい？
基板の上の薄膜を測るなら薄膜熱物性測定装置 NanoTR、金属やセラミックスの高温測定ならアドバンス理工のレーザフラッシュ法熱定数測定装置 TC-1200RHです。薄膜熱物性測定装置 NanoTRの測定方式はパルス光加熱サーモリフレクタンス法、温度はRT〜500℃です。アドバンス理工のレーザフラッシュ法熱定数測定装置 TC-1200RHの測定方式はレーザフラッシュ法、温度はRT〜1150℃です。
Q.薄膜熱物性測定装置 NanoTRとフラッシュ法熱拡散率測定装置 Discovery Flashはどっちがいい？
基板の上の薄膜を測るなら薄膜熱物性測定装置 NanoTR、極低温から超高温まで測るならティー・エイ・インスツルメント・ジャパンのフラッシュ法熱拡散率測定装置 Discovery Flashです。薄膜熱物性測定装置 NanoTRの測定方式はパルス光加熱サーモリフレクタンス法、温度はRT〜500℃です。ティー・エイ・インスツルメント・ジャパンのフラッシュ法熱拡散率測定装置 Discovery Flashの測定方式はキセノンフラッシュ、レーザーフラッシュ、温度は-175〜2,800℃（シリーズ全体）⁠で⁠⁠⁠⁠す⁠。
Q.薄膜熱物性測定装置 NanoTRのほかにNETZSCH Japanの熱伝導率測定器はある？
あります。NETZSCH Japanの熱伝導率測定器には、薄膜熱物性測定装置 NanoTRのほかに熱拡散率/熱伝導率測定装置 LFA 717 HyperFlash（測定方式はフラッシュ法）があります。
Q.薄膜熱物性測定装置 NanoTRはどこのメーカー？
薄膜熱物性測定装置 NanoTRはNETZSCH Japan株式会社の製品です。NETZSCH Japanの主な製品分野は粘弾性測定装置・示差走査熱量計・熱伝導率測定器です。

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