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X線カメラフォトンカウンティングの二次元型

CdTe PhotonCounting FPD

株式会社ANSeeN

エネルギー情報を持つCdTeフォトンカウンティングFPD。

価格
公開価格なし(見積もり)
種類
フォトンカウンティングの二次元型
向いている所
材質の違いも見たい非破壊検査

比較表での位置

CdTe PhotonCounting FPDは、X線カメラのメーカー7社比較の種類がフォトンカウンティングの二次元型の3製品の1つとして載っています。

  • 7社掲載社数
  • 11製品比較表の製品
  • 3製品同じ種類
  • 0製品公開価格あり
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CdTe PhotonCounting FPD​の強みと方式

X線光子を個別に数え、エネルギーの情報を持ったまま画像にするFPDです。100 μmピッチで2 bin、200 μmピッチで8 binを同時に測れます。有効撮像領域は115.2 x 115.2 mmで、最大60 fpsです。

向いている所材質の違いも見たい非破壊検査

種類:フォトンカウンティングの二次元型

X線の粒を半導体の画素で直接電荷に変え、1個ずつ数える型です。シンチレータの光の広がりによるぼけが出ません。エネルギーの情報も取れるので、材質の見分けやX線回折に使います。

CdTe PhotonCounting FPD​の仕様

種類
フォトンカウンティングの二次元型
検出方式
CdTe直接変換、フォトンカウンティング
検出範囲
115.2 x 115.2 mm
画素ピッチ
100 μm、200 μm
エネルギー範囲
12.5 keVから
速度
60 fps
接続
Camera Link
価格
—公式資料で確認できず
出力ビット数
16 bit
センサ・シンチレータ
CdTe、厚さ750 μm、1000 μm
寸法・質量
350×300×63 mm

同じ種類の他社製品との違い

製品の特徴ごとの分類

CdTe PhotonCounting FPD株式会社ANSeeNX線検出器 PILATUS4 R 1MDECTRIS Japan K.K.2次元半導体検出器 HyPix-3000株式会社リガク
種類フォトンカウンティングの二次元型フォトンカウンティングの二次元型フォトンカウンティングの二次元型
検出方式CdTe直接変換、フォトンカウンティングCdTeまたはSi、フォトンカウンティング半導体ピクセル、フォトンカウンティング
検出範囲115.2 x 115.2 mm155.0 x 162.0 mm約3,000 mm²
画素ピッチ100 μm、200 μm150 x 150 µm100×100 µm
エネルギー範囲12.5 keVからCdTe 8〜25 keV、Si 6〜40 keV—公式資料で確認できず
速度60 fps内部200 Hzまで—公式資料で確認できず
接続Camera Link—公式資料で確認できず—公式資料で確認できず
価格—公式資料で確認できず—公式資料で確認できず—公式資料で確認できず
出力ビット数16 bit—公式資料で確認できず31 bit
センサ・シンチレータCdTe、厚さ750 μm、1000 μmCdTe、⁠⁠⁠⁠⁠⁠Si—公式資料で確認できず
寸法・質量350×300×63 mm—公式資料で確認できず147×93×180 mm、約2 kg

X線カメラの11製品を比較表で見る

CdTe PhotonCounting FPD​のよくある質問

Q.CdTe PhotonCounting FPDはどんな人に向いている?
CdTe PhotonCounting FPDは、材質の違いも見たい非破壊検査に使う人向けです。CdTe PhotonCounting FPDは、X線光子を個別に数え、エネルギーの情報を持ったまま画像にするFPDです。
Q.CdTe PhotonCounting FPDの強みは?
CdTe PhotonCounting FPDは、100 μmピッチで2 bin、200 μmピッチで8 binを同時に測れます。有効撮像領域は115.2 x 115.2 mmで、最大60 fpsです。
Q.CdTe PhotonCounting FPDはどんな方式?
CdTe PhotonCounting FPDの種類はフォトンカウンティングの二次元型です。X線の粒を半導体の画素で直接電荷に変え、1個ずつ数える型です。
Q.CdTe PhotonCounting FPDの主な仕様は?
CdTe PhotonCounting FPDの検出方式はCdTe直接変換、フォトンカウンティング、検出範囲は115.2 x 115.2 mmです。画素ピッチは100 μm、200 μm、エネルギー範囲は12.5 keVからです。
Q.CdTe PhotonCounting FPDとX線検出器 PILATUS4 R 1Mはどっちがいい?
材質の違いも見たい非破壊検査ならCdTe PhotonCounting FPD、研究室のX線回折と散乱の測定ならDECTRIS JapanのX線検出器 PILATUS4 R 1Mです。CdTe PhotonCounting FPDの検出方式はCdTe直接変換、フォトンカウンティング、検出範囲は115.2 x 115.2 mmです。DECTRIS JapanのX線検出器 PILATUS4 R 1Mの検出方式はCdTeまたはSi、フォトンカウンティング、検出範囲は155.0 x 162.0 mmです。
Q.CdTe PhotonCounting FPDの寸法・質量は?
CdTe PhotonCounting FPDの寸法・質量は350×300×63 mmです。リガクの2次元半導体検出器 HyPix-3000の寸法・質量は147×93×180 mm、約2 kgです。
Q.CdTe PhotonCounting FPDの速度は?
CdTe PhotonCounting FPDの速度は60 fpsです。DECTRIS JapanのX線検出器 PILATUS4 R 1Mの速度は内部200 Hzまでです。
Q.CdTe PhotonCounting FPDと2次元半導体検出器 HyPix-3000はどっちがいい?
材質の違いも見たい非破壊検査ならCdTe PhotonCounting FPD、X線回折の高速な測定ならリガクの2次元半導体検出器 HyPix-3000です。CdTe PhotonCounting FPDの検出方式はCdTe直接変換、フォトンカウンティング、検出範囲は115.2 x 115.2 mmです。リガクの2次元半導体検出器 HyPix-3000の検出方式は半導体ピクセル、フォトンカウンティング、検出範囲は約3,000 mm²です。
Q.CdTe PhotonCounting FPDのほかにANSeeNのX線カメラはある?
あります。ANSeeNのX線カメラには、CdTe PhotonCounting FPDのほかにCdTe PhotonCounting Line Sensor(検出方式はCdTe直接変換、フォトンカウンティング)があります。
Q.CdTe PhotonCounting FPDはどこのメーカー?
CdTe PhotonCounting FPDは株式会社ANSeeNの製品です。登記上の本店は〒432-8003 静岡県浜松市中央区和地山3丁目1番7号。ANSeeNの主な製品分野はプリアンプ・X線カメラです。

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