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反射率計波長ごとに測る分光型

平面基板透過率/反射率計測ユニット LV-RTM

株式会社ラムダビジョン

平面基板を卓上で測る積分球の計測ユニット。

価格
公開価格なし(見積もり)
種類
波長ごとに測る分光型
向いている所
平面基板の反射率と透過率

比較表での位置

平面基板透過率/反射率計測ユニット LV-RTMは、反射率計のメーカー5社比較⁠の種類「波長ごとに測る分光型」の3製品の1つとして載っています。

  • 5社掲載社数
  • 9製品比較表の製品
  • 3製品同じ種類
  • 0製品公開価格あり
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平面基板透過率/反射率計測ユニット LV-RTM​の強みと方式

積分球を使う卓上の平面基板用ユニットで、試料の厚みや傾きが変わっても影響を受けにくい測り方です。380〜1000nmを分光して測ります。反射率用・透過率用・両用の型があります。

向いている所平面基板の反射率と透過率

種類:波長ごとに測る分光型

光を波長ごとに分けて、反射率の曲線を出す型です。レンズの曲面や微小な部品、平面基板のコーティングの評価に使います。物体色や膜厚を一緒に求める機種もあります。

平面基板透過率/反射率計測ユニット LV-RTM​の仕様

種類
波長ごとに測る分光型
測り方
積分球で分光して測る
測定波長
380〜1000nm
測定範囲
—公式資料で確認できず
規格
—公式資料で確認できず
測れる試料
平面基板
光源
ハロゲンランプ
電源
—公式資料で確認できず
価格
—公式資料で確認できず
質量
—公式資料で確認できず
寸法
—公式資料で確認できず
測定時間
—公式資料で確認できず
精度・再現性
±0.5%(400〜800nm)
電池の持ち
—公式資料で確認できず
データ
透過率、反射率、OD、測色をソフトで表示
特長
反射率、透過率、両方の3つの型

同じ種類の他社製品との違い

製品の特徴ごとの分類

平面基板透過率/反射率計測ユニット LV-RTM株式会社ラムダビジョン近赤外顕微分光測定機 USPM-RU-W株式会社エビデント直接測定方式ミラー反射率計 MG-I 7000日本電色工業株式会社
種類波長ごとに測る分光型波長ごとに測る分光型ミラー規格の据え置き型
測り方積分球で分光して測るリファレンス試料に対する比較測定直接測定法
測定波長380〜1000nm380〜1050nm—公式資料で確認できず
測定範囲—公式資料で確認できず直径17〜70μm—公式資料で確認できず
規格—公式資料で確認できず—公式資料で確認できずJIS D 5705(直接測定法)
測れる試料平面基板レンズ、フィルタ、ミラーなどの光学素子平面鏡、プリズム鏡、メッキ面、研磨面
光源ハロゲンランプ専用ハロゲン光源ハロゲンランプか白色LED(オプションで選ぶ)
電源—公式資料で確認できずAC100-240V—公式資料で確認できず
価格—公式資料で確認できず—公式資料で確認できず—公式資料で確認できず
質量—公式資料で確認できず本体約26kg—公式資料で確認できず
寸法—公式資料で確認できず本体360×446×606mm—公式資料で確認できず
測定時間—公式資料で確認できず—公式資料で確認できず—公式資料で確認できず
精度・再現性±0.5%(400〜800nm)±0.02%以下(430〜1010nm、10x・20x対物)—公式資料で確認できず
電池の持ち—公式資料で確認できず—公式資料で確認できず—公式資料で確認できず
データ透過率、反射率、OD、測色をソフトで表示—公式資料で確認できず—公式資料で確認できず
特長反射率、透過率、両方の3つの型裏面の反射防止処理なしで最薄0.2mmまで広い試料室で大きな試料も入る

反射率計の9製品を比較表で見る

平面基板透過率/反射率計測ユニット LV-RTM​のよくある質問

Q.平面基板透過率/反射率計測ユニット LV-RTMはどんな人に向いている?
平面基板透過率/反射率計測ユニット LV-RTMは、平面基板の反射率と透過率に使う人向けです。平面基板透過率/反射率計測ユニット LV-RTMは、積分球を使う卓上の平面基板用ユニットで、試料の厚みや傾きが変わっても影響を受けにくい測り方です。
Q.平面基板透過率/反射率計測ユニット LV-RTMの強みは?
平面基板透過率/反射率計測ユニット LV-RTMは、380〜1000nmを分光して測ります。反射率用・透過率用・両用の型があります。
Q.平面基板透過率/反射率計測ユニット LV-RTMはどんな方式?
平面基板透過率/反射率計測ユニット LV-RTMの種類は波長ごとに測る分光型です。光を波長ごとに分けて、反射率の曲線を出す型です。
Q.平面基板透過率/反射率計測ユニット LV-RTMの主な仕様は?
平面基板透過率/反射率計測ユニット LV-RTMの測り方は積分球で分光して測る、測定波長は380〜1000nmです。測れる試料は平面基板、光源はハロゲンランプです。
Q.平面基板透過率/反射率計測ユニット LV-RTMと近赤外顕微分光測定機 USPM-RU-Wはどっちがいい?
平面基板の反射率と透過率なら平面基板透過率/反射率計測ユニット LV-RTM、レンズ曲面や微小部品の反射率ならエビデントの近赤外顕微分光測定機 USPM-RU-Wです。平面基板透過率/反射率計測ユニット LV-RTMの測り方は積分球で分光して測る、測定波長は380〜1000nmです。エビデントの近赤外顕微分光測定機 USPM-RU-Wの測り方はリファレンス試料に対する比較測定、測定波長は380〜1050nmです。
Q.平面基板透過率/反射率計測ユニット LV-RTMの精度・再現性は?
平面基板透過率/反射率計測ユニット LV-RTMの精度・再現性は±0.5%(400〜800nm)⁠で⁠す⁠。エビデントの近赤外顕微分光測定機 USPM-RU-Wの精度・再現性は±0.02%以下(430〜1010nm、10x・20x対物)⁠で⁠⁠⁠⁠す⁠。
Q.平面基板透過率/反射率計測ユニット LV-RTMのデータは?
平面基板透過率/反射率計測ユニット LV-RTMのデータは透過率、反射率、OD、測色をソフトで表示です。村上色彩技術研究所の積分球式全反射率計 RM-5のデータはデジタル表示、オプションでPC管理です。
Q.平面基板透過率/反射率計測ユニット LV-RTMと直接測定方式ミラー反射率計 MG-I 7000はどっちがいい?
平面基板の反射率と透過率なら平面基板透過率/反射率計測ユニット LV-RTM、平面鏡・プリズム鏡の直接法の検査なら日本電色工業の直接測定方式ミラー反射率計 MG-I 7000です。平面基板透過率/反射率計測ユニット LV-RTMの測り方は積分球で分光して測る、測定波長は380〜1000nmです。日本電色工業の直接測定方式ミラー反射率計 MG-I 7000の測り方は直接測定法、規格はJIS D 5705(直接測定法)⁠で⁠⁠⁠⁠す⁠。
Q.平面基板透過率/反射率計測ユニット LV-RTMのほかにラムダビジョンの反射率計はある?
あります。ラムダビジョンの反射率計には、平面基板透過率/反射率計測ユニット LV-RTMのほかに顕微分光反射率顕微鏡 LVmicro-RUR(測り方は顕微分光、オートフォーカスで頂点を測る)があります。
Q.平面基板透過率/反射率計測ユニット LV-RTMはどこのメーカー?
平面基板透過率/反射率計測ユニット LV-RTMは株式会社ラムダビジョンの製品です。ラムダビジョンの主な製品分野は反射率計です。

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