ナノ粒子解析装置 nanoPartica SZ-100V2

ナノ粒子解析装置 nanoPartica SZ-100V2は、粒子径とゼータ電位を1台で測る人向けです。ナノ粒子解析装置 nanoPartica SZ-100V2は、粒子径に加えて、ゼータ電位と分子量も1台で測れます。

ナノ粒子解析装置 nanoPartica SZ-100V2の粒子径は0.3nm〜10μmで、測定は通常約2分です。分散の安定性まで見たいナノ粒子の開発に使います。

ナノ粒子解析装置 nanoPartica SZ-100V2の測定原理は動的光散乱式（光子相関法）、測定範囲は0.3nm〜10μmです。試料の入れ方・量はキュベットセル、電極付きセル、光源は半導体励起固体レーザ（532nm）⁠で⁠す⁠。

粒子径とゼータ電位を1台で測るならナノ粒子解析装置 nanoPartica SZ-100V2、濃厚な試料まで粒子径とゼータ電位なら大塚電子のゼータ電位・粒子径・分子量測定システム ELSZneoです。ナノ粒子解析装置 nanoPartica SZ-100V2の測定原理は動的光散乱式（光子相関法）、測定範囲は0.3nm〜10μmです。大塚電子のゼータ電位・粒子径・分子量測定システム ELSZneoの測定原理は動的光散乱法（光子相関法）、測定範囲は0.6nm〜10μmです。

ナノ粒子解析装置 nanoPartica SZ-100V2の特長は粒子径の測定は通常約2分、ゼータ電位も測定です。マイクロトラック・ベルの動的光散乱式 NANOTRAC WAVE IIの特長はゼータ電位-200〜+200mVです。

粒子径とゼータ電位を1台で測るならナノ粒子解析装置 nanoPartica SZ-100V2、5検体を続けて測る粒子径測定なら大塚電子の多検体ナノ粒子径測定システム nanoSAQLAです。ナノ粒子解析装置 nanoPartica SZ-100V2の測定原理は動的光散乱式（光子相関法）、測定範囲は0.3nm〜10μmです。大塚電子の多検体ナノ粒子径測定システム nanoSAQLAの測定原理は動的光散乱法（光子相関法）、測定範囲は0.6nm〜10μmです。

あります。堀場製作所の粒子径分布測定装置には、ナノ粒子解析装置 nanoPartica SZ-100V2のほかに粒子径分布測定装置 Partica LA-960V2（測定原理はレーザ回折・散乱式）があります。

ナノ粒子解析装置 nanoPartica SZ-100V2は株式会社堀場製作所の製品です。登記上の本店は〒601-8305 京都府京都市南区吉祥院宮の東町2番地。堀場製作所の主な製品分野は原子間力顕微鏡・粉塵計・オゾン濃度計・COD自動測定装置です。