動的光散乱式 NANOTRAC WAVE II

動的光散乱式 NANOTRAC WAVE IIは、測定角度180°で測る粒子径測定に使う人向けです。動的光散乱式 NANOTRAC WAVE IIは、測定角度180°の周波数解析法で、0.8〜6500nmの粒子を測ります。ゼータ電位は-200mV〜+200mVまで同じ装置で見られ、導電率も測れます。

動的光散乱式 NANOTRAC WAVE IIの測定原理は動的光散乱式（周波数解析法）、測定範囲は0.8〜6500nmです。光源はレーザダイオード（780nm）、外形寸法は355×381×330mmです。

測定角度180°で測る粒子径測定なら動的光散乱式 NANOTRAC WAVE II、広い濃度の試料を非接触で測るならスペクトリスの動的光散乱式粒子径測定装置 Zetasizer Proです。動的光散乱式 NANOTRAC WAVE IIの測定原理は動的光散乱式（周波数解析法）、測定範囲は0.8〜6500nmです。スペクトリスの動的光散乱式粒子径測定装置 Zetasizer Proの測定原理は動的光散乱式、測定範囲は0.3nm〜15μmです。

動的光散乱式 NANOTRAC WAVE IIの特長はゼータ電位-200〜+200mVです。大塚電子のゼータ電位・粒子径・分子量測定システム ELSZneoの特長は0〜90℃で測定、濃厚溶液にも使える。

測定角度180°で測る粒子径測定なら動的光散乱式 NANOTRAC WAVE II、粒子径とゼータ電位を1台で測るなら堀場製作所のナノ粒子解析装置 nanoPartica SZ-100V2です。動的光散乱式 NANOTRAC WAVE IIの測定原理は動的光散乱式（周波数解析法）、測定範囲は0.8〜6500nmです。堀場製作所のナノ粒子解析装置 nanoPartica SZ-100V2の測定原理は動的光散乱式（光子相関法）、測定範囲は0.3nm〜10μmです。

あります。マイクロトラック・ベルの粒子径分布測定装置には、動的光散乱式 NANOTRAC WAVE IIのほかに粒子径分布・形状解析装置 SYNC PRO（測定原理はレーザ回折・散乱、動的画像解析）があります。

動的光散乱式 NANOTRAC WAVE IIはマイクロトラック・ベル株式会社の製品です。登記上の本店は〒559-0031 大阪府大阪市住之江区南港東8丁目2番52号。ガス・蒸気吸着量や比表面積・細孔分布の測定装置を開発・製造・販売し、粒子径分布の測定装置なども扱う。