- 半導体の
内部を X線と 超音波で 調べる 解析を 受託します。 - SATの
最大走査範囲は 305× 228mm
- 設備
- X線検査機
(XD7500VR)・ 超 音波探傷装置 (SAT)・ 走査電子顕微鏡 (VE-8800) - 認証
- ISO 9001:2015

部品の
2社を表示
| 会社 | 強み | 超音波探傷 | 磁粉探傷 | 浸透探傷 | 放射線透過試験 | 設備・ | 公式ページ |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| ○ | — | — | ○ |
| 公式サイト | |
| 株式会社 |
| ○ | ○ | ○ | ○ |
| 公式サイト |
○は
答えは、
大分電子工業・
大川技研の
大川技研の
大分電子工業・
浸透探傷は
磁粉探傷は
超
対象物を
出典