粒子形状画像解析装置 PITA-04M

粒子形状画像解析装置 PITA-04Mは、粒の画像を見ながら形まで評価に使う人向けです。粒子形状画像解析装置 PITA-04Mは、セルを流れる粒子を撮影し、短い時間に数万個を解析します。自社開発の平面伸張セルで、粒子が詰まりにくい幅のまま中心だけを通します。

粒子形状画像解析装置 PITA-04Mの測定原理は画像解析式（セル中の粒子を撮影）、試料の入れ方・量は合成石英ガラスの平面伸長セルです。光源は3W青色LEDランプ、外形寸法は幅653×高さ543×奥行403mmです。

粒の画像を見ながら形まで評価なら粒子形状画像解析装置 PITA-04M、少しの粗大粒子と個数濃度を見るなら島津製作所のダイナミック粒子画像解析システム iSpect DIA-10です。粒子形状画像解析装置 PITA-04Mの測定原理は画像解析式（セル中の粒子を撮影）、試料の入れ方・量は合成石英ガラスの平面伸長セルです。島津製作所のダイナミック粒子画像解析システム iSpect DIA-10の測定原理は動的画像解析法、測定範囲は5〜100µmです。

粒子形状画像解析装置 PITA-04Mの質量は約75kgです。島津製作所のダイナミック粒子画像解析システム iSpect DIA-10の質量は10kg（測定ユニット）⁠で⁠す⁠。

粒子形状画像解析装置 PITA-04Mの電源はAC100V、50/60Hzです。島津製作所のダイナミック粒子画像解析システム iSpect DIA-10の電源はAC100V、50/60Hzです。

粒子形状画像解析装置 PITA-04Mの特長は自社開発の平面伸張セルです。島津製作所のダイナミック粒子画像解析システム iSpect DIA-10の特長は個数濃度の再現性CV≦5%です。

粒の画像を見ながら形まで評価なら粒子形状画像解析装置 PITA-04M、5検体を続けて測る粒子径測定なら大塚電子の多検体ナノ粒子径測定システム nanoSAQLAです。粒子形状画像解析装置 PITA-04Mの測定原理は画像解析式（セル中の粒子を撮影）、試料の入れ方・量は合成石英ガラスの平面伸長セルです。大塚電子の多検体ナノ粒子径測定システム nanoSAQLAの測定原理は動的光散乱法（光子相関法）、測定範囲は0.6nm〜10μmです。

あります。セイシン企業の粒子径分布測定装置には、粒子形状画像解析装置 PITA-04Mのほかに乾式粒子形状画像解析装置 PITA-D（測定原理は動的画像解析法）があります。

粒子形状画像解析装置 PITA-04Mは株式会社セイシン企業の製品です。登記上の本店は〒151-0051 東京都渋谷区千駄ヶ谷5丁目34番7号。セイシン企業の主な製品分野は遠心力型の分級機・安息角測定器・流動性測定器・旋回気流型の分級機・パウダーテスターです。